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气溶胶多角度偏振光散射测量仪
成果创新点 1.多偏振态多角度散射表征颗粒； 2.基于详细形貌模型的反演算法 技术成熟度 样品样机测试阶段 市场前景 气溶胶测量领域。目前市场上并无商业化产品。 转化计划 2020 年完成产品化，自主转化寻求投资。 所需支持 资金 500 万。
中国科学技术大学
2021-04-14
气溶胶多角度偏振光散射测量仪
1.多偏振态多角度散射表征颗粒；
2.基于详细形貌模型的反演算法
中国科学技术大学
2023-05-19
密集矩阵式高倍聚光光伏模组及系统
砷化镓太阳能电池芯片。攻克了芯片外延生长、芯片设计及产业化制备和芯片封装等核心技术，实现了产业化。 密集矩阵式高倍聚光模组：解决了密集矩阵式菲涅尔透镜设计、分布式散热技术、模组封装技术， 实现了在低成本的前提下，保证跟踪系统精度、抗风雪能力及长期可靠性等问题。
北京工业大学
2021-04-13
密集矩阵式高倍聚光光伏模组及系统
北京工业大学
2021-04-14
V-1100可见分光光度计
仪器特点* 采用单片微机控制，数码显示* 自动调0、调100%功能* 可通过直接输入F因子进行浓度直读* 可直接输入标样浓度值进行浓度测量* 配备通用并行打印接口，可打印测量数据* 配USB接口* 可通过PC软件控制实现光谱扫描等更精确和灵活的测量要求(选配)
上海美析仪器有限公司
2021-12-16
V-1500可见分光光度计
仪器特点*采用单片微机控制，128*64位液晶显示*宽大的液晶显示器可显示多组数据*巨大的内存空间，可存储多组数据和曲线*自动调0、调100%功能*波长自动调节*滤色片自动切换*宽大样品池（5mm～100mm）*具有最多十点标样建标准曲线测量功能*可通过直接输入K、B因子建立标准曲线进行定量测量*可直接输入标样和对应浓度值建立标准曲线进行定量测量*可断电保存测量设置的标准曲线参数*配备通用并行打印接口，可打印标题栏、测量数据、曲线参数、曲线标准样品点和曲线*配USB接口*可通过PC软件控制实现光谱扫描等更精确和灵活的测量要求（V-1500选配，V-1500PC标配）
上海美析仪器有限公司
2021-12-16
UL-1000超微量分光光度计
产品简介超微量分光光度计是一类很重要的分析仪器 ,无论在物理学、化学、生物学、医学、材料学、环境科学等科学研究领域 ,还是在化工、医药、环境检测、冶金等现代生产与管理部门 ,超微量分光光度计都有广泛而重要的应用。超微量分光光度计就是利用分光光度法对物质进行定量定性分析的仪器，常用于核酸，蛋白定量以及细菌生长浓度的定量。超微量分光光度计已成为现代分子生物实验室常规仪器仪器特点*检测所需样微量，最低只需0.5ul *检测范围宽，比传统的分光光度计的上限高100倍*对于多数样品而言，无需稀释 *机器无需预热，直接测量，无需检测容器，日常消耗低 *全波长190-1100nm，分辨率1nm，仪器都自动给出全波长的扫描结果190-850nm *体积小巧，便携式包装，满足现场检测的需求*通过PC控制实现更精确和灵活的测量
上海美析仪器有限公司
2021-12-16
UL-2000超微量分光光度计
产品简介超微量分光光度计是一类很重要的分析仪器 ,无论在物理学、化学、生物学、医学、材料学、环境科学等科学研究领域 ,还是在化工、医药、环境检测、冶金等现代生产与管理部门 ,超微量分光光度计都有广泛而重要的应用。超微量分光光度计就是利用分光光度法对物质进行定量定性分析的仪器，常用于核酸，蛋白定量以及细菌生长浓度的定量。超微量分光光度计已成为现代分子生物实验室常规仪器仪器特点*检测所需样微量，Z低只需0.5ul ,超微量和比色皿双平台*检测范围宽，比传统的分光光度计的上限高100倍*对于多数样品而言，无需稀释 *机器无需预热，直接测量，无需检测容器，日常消耗低 *全波长190-1100nm，分辨率1nm，仪器都自动给出全波长的扫描结果190-850nm *体积小巧，便携式包装，满足现场检测的需求*通过PC控制实现更精确和灵活的测量
上海美析仪器有限公司
2021-12-16
光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法
本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测 量方法，可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参 数进行非接触、非破坏的测量。首先，通过仿真分析的手段，选出最 优测量配置与最优等效介质模型；其次，将上述仿真结果运用于实际 纳米结构的测量，包括：在最优测量配置下，对实际纳米结构进行光 学散射测量，获得测量光谱；运用基于最优等效介质模型的参数提取 算法，对测量光谱进行分析，获得提取参数的数值；通过提取参数与 待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射，获得待测 参数的数值。
华中科技大学
2021-04-11
光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法
本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法，可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参数进行非接触、非破坏的测量。首先，通过仿真分析的手段，选出最优测量配置与最优等效介质模型；其次，将上述仿真结果运用于实际纳米结构的测量，包括：在最优测量配置下，对实际纳米结构进行光学散射测量，获得测量光谱；运用基于最优等效介质模型的参数提取算法，对测量光谱进行分析，获得提取参数的数值；通过提取参数与待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射，获得待测参数的数值。
华中科技大学
2021-04-14