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废电路板破碎分离回收铜残余非金属粉催化热解的方法
本发明公开了一种废电路板破碎分离回收铜残余非金属粉催化热解的处理方法,该方法是在非金属粉中加入碱性废渣混合均匀得到混合物,然后对该混合物进行热解,从而实现非金属粉与碱性废渣的共热解;碱性废渣中含有金属氧化物,能够促进热解产物的催化,使得得到的热解产物中,热解气中的溴含量下降,而被固定在热解残渣中的溴元素含量升高,热解焦油内含碳数为 5~10 的轻质油比例提高。本发明通过对关键共热解反应的反应参数、条件以及该反应所对应的微观作用机理等进行改进,与现有技术相比能够有效解决热解产物中的热解油以重质焦油为主 。
华中科技大学 2021-04-14
一种基于 FPGA 的模拟位同步时钟信号传输及提取电路系统
本实用新型涉及通信工程技术,具体涉及一种基于 FPGA 的模拟位同步时钟信号传输及提取电路系 统,包括 CLK 时钟信号,还包括 m 序列信号产生系统,模拟信道传输系统,位同步时钟提取系统;所 述 m 序列信号产生系统接 CLK 时钟信号,所述 m 序列信号产生系统、模拟信道传输系统和位同步时钟 提取系统依次连接。该提取电路系统适用时钟频率范围 1Hz~1MHz,频率精确度达到 10-5 数量级,检测 速度快(小于 3 秒),运行稳定,人机交互
武汉大学 2021-04-14
一种基于忆阻器的可编程模拟电路及其操作方法
本发明公开了一种基于忆阻器的可编程模拟电路及其操作方法, 可编程模拟电路包括:阻变元件、第一电阻、第二电阻、N 型 MOS 管 和 P 型 MOS 管;第一电阻的一端作为可编程模拟电路的第一端口,阻 变元件的一端与第一电阻的另一端连接,阻变元件的另一端作为可编 程模拟电路的第二端口;N 型 MOS 管的漏极和 P 型 MOS 管的漏极均 连接至阻变元件的另一端,N 型 MOS 管的源极和 P 型 MOS 管的源极 均
华中科技大学 2021-04-14
表征太赫兹量子级联激光器多模效应的电路建模仿真方法
本发明涉及一种表征太赫兹量子级联激光器多模效应的电路建模仿真方法,首先建立表征 THzQCL 有源层内部载流子输运特性的多模速率方程组;接着建立表征ThzQCL内部多模态效应的物理方程模型; 然后通过变量代换和化简得到相应的等效电路模型;建立表征 THzQCL 输入端电气特性的等效电路模型; 建立表征 THzQCL 输出端光功率特性的等效电路模型;最后建立电路宏模型,包括一个电气端口和一个 光功率输出端口,基于电路宏模型进行光电性能仿真和输出光谱性能测试。本发明可测试温度对 THzQCL 各种光电性能的影响;可支持实现对 THzQCL 光电性能和输出多模效应的模拟和仿真。 
武汉大学 2021-04-13
硅基毫米波集成电路设计
基于CMOS工艺,设计了大量射频、毫米波收发机和频率源芯片; CMOS 90nm 60GHz 接收机芯片,集成片上天线,传输效率优于IBM芯片90%; CMOS 90nm 21dBm 60GHz功率放大器,性能优于Hittite商用GaAs芯片; CMOS 60GHz 移相器芯片,为开发毫米波相控阵芯片奠定良好基础;
电子科技大学 2021-04-10
射频与光通信集成电路芯片
在光通信传输过程中,发射端将电信号转换成光信号,然后调制到激光器发出激光束,通过光纤传递,在接收端接收到光信号后再将其转化为电信号,经调制解调后变为信息,而光电芯片所起到的作用就是,实现电信号和光信号之间的相互转换,是光电技术产品的核心,处于光通信领域的金字塔尖。
东南大学 2021-04-11
印刷电路板孔径孔数检测机(产品)
成果简介:本设备为一种实时在线印刷电路板孔径孔数检测机(简称:PCB检孔机),用于印刷电路板的生产过程中,高密度小孔径印刷电路板孔径孔数的产品质量检测。通常这些高密度小孔径印刷电路板孔径孔数的检测人工已经无法胜任。 项目来源:自行开发 应用范围:可用于多种透光快速高精密图象检测场合。 现状特点:最小解析度为0.001mm,检测速度为66mm/sec-200mm/sec,检测宽度为500mm,可以实现缺孔、孔径错误、孔位置偏移和多钻孔的检测。 所
北京理工大学 2021-04-14
一种 APD 阵列地址编码主动输出电路
本发明公开了一种 2<sup>m</sup>×2<sup>k</sup>APD 阵列地 址编码主动输出电路,属于 APD 阵列领域;现有的无扫描输出只能实 现单点像素地址的输出;本发明提供的主动输出电路,通过地址控制 电路控制地址编码电路的输出开关,经地址输出电路输出对应的像元 块首地址,通过后续处理电路得到四个单元地址,无需复杂的时序控 制电路,效率高,速度快。
华中科技大学 2021-04-14
一种 SWP 协议中 CLF 芯片接口电路
本发明公开了一种 SWP 协议中 CLF 芯片接口电路,包括输入 整形模块,输出负载调制模块,电流采样模块和输出整形模块;所述 输入整形模块的输入端用于连接 CLF 芯片输出的电压调制信号,所述 输出负载调制模块的输入端与所述输入整形模块的输出端连接,所述 输出负载调制模块的输出端用于与 UICC 芯片的 C6 引脚连接;所述电 流采样模块的输入端与 UICC 芯片的 C6 引脚相连;所述输出整形模块 的输入端连接至
华中科技大学 2021-04-14
半导体集成电路生产工艺监测设备
CSM4A系列多功能C-V测试系统,经国家“七五”、“八五”两届重点科技攻关,已在我校研制成功,并被多个半导体集成电路生产厂家和研究所使用。该项目由陈光遂教授主持完成。原电子工业部鉴定认为:该C-V测试系统具备八项测试功能,数据可靠,实用性强,人机界面良好。总体水平已达到九十年代国际先进水平,并有独创性,可以替代进口设备。主要测试功能有:MOS高频CV,M
西安交通大学 2021-01-12
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