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一种深部巷道软弱煤岩松动圈厚度的计算方法及测量装置
本发明公开了一种深部巷道软弱煤岩松动圈厚度的计算方法及应用该方法的测量装置,该算法包括以下步骤:(1)定义测点的初始位置距巷道表面的距离为r,测点的位移为u,所述测点在深部巷道软弱煤岩钻孔中并位于松动圈范围内,构建如下u随r变化的表达式:其中,u0、k1和k2为系数;(2)测量两个以上测点的u随r变化的过程,计算得出k1和k2的值;(3)将得出的k1和k2的值带入如下公式,计算得出深部巷道软弱煤岩松动圈厚度L的值:L=?k2ln(20k2/k1)。本发明计算方法简单、合理,容易实施,而且计算准确度高
安徽建筑大学 2021-01-12
一种基于多路复用技术的多通道光谱测量装置与方法
本发明公开了一种基于多路复用技术的多通道光谱测量装置与方法,装置包括光路切换开关阵列、 探头组和光谱仪,光谱仪和探头组通过光路切换开关阵列连接;探头组由 N 个光纤探头组成,光路切换 开关阵列由 N 个相同的光路开关单元并联构成,N 取大于等于 2 的整数;N 个光纤探头分别通过 N 个 相同的光路开关单元与光谱仪连接。本发明只需要通过一台光谱仪就可以观测多个光纤探头采集的光谱 数据,而且不必通过人工
武汉大学 2021-04-14
一种基于定焦数码相机的旋转全景摄影测量方法和装置
本发明提出了一种基于定焦数码相机的旋转全景摄影测量方法和装置,当难以在被测物体上或周围布设 控制点,但可以在其它位置或被测物对面布设控制点的情况下,利用少量控制点,可解算被测点的物方坐标, 是解决现实场景中相机视场角小、控制点稀少难题的技术方案,是在困难场景进行近景摄影测量的一种有效 的手段;本发明设备简单、成本较低,能够解决实际工作中控制点稀少时的摄影测量问题。 
武汉大学 2021-04-14
光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法
本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测 量方法,可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参 数进行非接触、非破坏的测量。首先,通过仿真分析的手段,选出最 优测量配置与最优等效介质模型;其次,将上述仿真结果运用于实际 纳米结构的测量,包括:在最优测量配置下,对实际纳米结构进行光 学散射测量,获得测量光谱;运用基于最优等效介质模型的参数提取 算法,对测量光谱进行分析,获得提取参数的数值;通过提取参数与 待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射,获得待测 参数的数值。 
华中科技大学 2021-04-11
FCP磁场控制平台磁测量系统磁光测量仪器
FCP磁场控制平台产品概述: FCP磁场控制平台是根据磁控原理设计的理想磁测量系统,磁场范围超过3T,利用TESTIK475高斯计稳定磁场控制,适合各系列电磁铁配置,连续可变的电磁气隙,实心的和光学入口极帽,线型双极,真实四象限电磁铁电源。 FCP磁场控制平台磁测量系统磁光测量仪器 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! TESTIK475型高斯计努力保持确切的磁场密度,用户输入的控制设定点,用G、T、Oe、A/m来表示。北京锦正茂的电磁铁磁场控制平台集成了硬件和控制部件来形成一个变化的磁场平台,可以被独立的被利用或做为用户设计的测量系统的一个基础。FCP磁场控制平台磁测量系统磁光测量仪器 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! FCP磁场控制平台标准配置: TESTIK475有1个计算机接口:RS-232串口:。这个接口可以设置所有仪器参数和测量值得读回。在磁场控制期间,接口的读数率是额定每秒30个读数。475的LabVIEW驱动是提供的(选配)。磁场控制平台不含应用软件。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 锦正科技以现代高科技产业和传统产业为核心业务,对内承接科研生产任务,对外以商务平台方式实现军民两用技术成果转换,形成了科学管理的现代化经营模式,专门从事物理、化学和材料等领域的科学仪器研发、销售各类型超低温测试设备(液氮 液氦)制冷机系统集成 ,定制 ,高低温真空磁场发生系统,Helmholtz线圈(全套解决方案),电磁铁(全系列支持定制),螺线管,电子枪(高稳定性双极性磁铁恒流电源1ppm),高低温磁场真空探针台,霍尔测试系统,电输运测量解决方案,磁光克尔效应测量系统等产品种类齐全,性能可靠,至今已有近10余年的历史,是国内(较早)生产探针台,电输运,电磁铁的厂家之一。    
北京锦正茂科技有限公司 2022-02-10
一种新型电阻加热丝制作方法
本发明公开了一种新型电阻加热丝制作方法,准备好钨金属基板、微米级钨粉和高发射率纳米材料; 将微米级钨粉和高发射率纳米材料加入聚乙烯醇(PVA)水悬浮液中,并利用磁力搅拌器搅拌均匀;使用 浸渍法将微米级钨粉和高发射率纳米材料混合物涂覆在钨金属基板表面形成涂层;然后采用激光烧结技 术处理微米级钨粉和高发射率纳米材料混合物,使钨金属基板表面的涂层和钨金属基板融合,高发射率 纳米材料被集成到钨金属中,形成钨基纳米复合材料;然后利用激光喷丸技术对钨基纳米复合材料进行 处理;最后将上述方法所得的钨基纳米复合材料
武汉大学 2021-04-14
井间并行电阻率阻率CT测试方法
本发明公开了一种井间并行电阻率 CT 测试方法,是对钻孔间地质条件及构造特征进行探查的一种物探技术。通过在两两钻井之间布置测试系统,形成 64 个电极的井间测线,采用并行电法数据采集技术进行单极或偶极供电与测试,获得井间电性采集数据,形成井间不同电极间层析数据体。通过井间电阻率层析成像技术实现对测试区域电阻率及激电参数成像,进一步评价其岩层及构造特征状况,获得地质解释成果及认识。该套测试系统可完成 1200m 深井的数据采集。
安徽理工大学 2021-04-13
绝缘电阻表(ZC25-3)(J01406)
         本仪表用于测量各种电机、电览、变压器、电讯元器件、家用电器和其它电气设备的绝缘电阻。 技术性能:  1、额定电压: 220V ;  2、测量范围: 0-500MΩ ;  3、准确度等级: ±10% ;  4、使用条件: 温度-25~+40℃, 相对湿度不大于80%;  5、摇柄额定转速:120f/min ;   6、外磁场影响: 当外界磁场强度为0.4KA/m时, 仪表允许改变量为等级指数的100%;  7、倾斜影响: 当仪表自水平位置向倾斜5度时,仪表允许改变量为等级指数的50%;   8、绝缘电阻: 仪表所有线路与外壳之间的绝缘电阻应不小于2 MΩ;    9、试电压: 仪表能耐受频率为50Hz的正弦波交流电压历时1min试验,电压有效值为1000V;                   10、刻度弧长: 约65mm ; 11、外型尺寸:205 mm×120 mm×14 mm ;      12、重量: 2Kg ;        13、标准代号: JB/T9290-1999。
杭州电表厂 2021-08-23
高精度移动测量系统
技术简介 近年来随着智慧城市、高精地图、无人驾驶等行业的快速发展,移动测量系统作为一种高新的测绘地理信息装备在测绘地理信息生产中的作用也日益突出,是当今测绘领域最前沿的科技之一。该传统集成了激光扫描仪、工业全景相机以及定位定姿等多种传感器,能够在移动状态下实时主动地获取近景目标的空间坐标、属性数据及实景影像等多种信息。 本系统可用于高精地图数据采集、处理及地图构建,为无人驾驶提供技术支撑,同时为实景三维、智慧城市提供数据采集、数据处理的技术支撑。应用场景包括1)高精地图数据获取; 2)实景三维; 3)智慧城市; 4)道路信息获取及病害检测; 5)城市部件;6)地籍测量。 道路移动测量采集系统 无人机移动测量系统 移动测量数据处理软件 移动测量多传感器采集软件 创新点及性能指标 (1)多传感器一体化系统集成架构 多传感器系统集成、数据采集与控制,涉及到基于网络交互的模块间解耦,实现负载均衡,并利用插件式架构实现传感器的可扩展适配。 (2)多传感器数据融合的并行运算 基于多线程机制实现I/O与数据运算间的并行,并通过多核CPU/GPU异构进行并行计算。 (3)多传感器数据的一体化融合 基于特征约束(匹配)的多传感器一体化标定,涉及到基于平面特征的激光扫描仪的外方位元素标定以及基于特征匹配的无控制点全景相机外方位元素标定。 (4)大规模点云数据的空间数据管理及实时渲染 基于八叉树结构实现内外存的点云空间数据管理,在此基础上基于点云数据实时预测调度和LOD结合对大规模点云进行实时渲染。
山东科技大学 2021-05-11
微孔自动测量仪
目前,实现对微孔测量的方法有多种,传统方法是操作者通过工具显微镜观察微孔的放大图像,利用人工进行测量。这种方法有效率低,精度不足,稳定性差等缺点;也有采用CCD摄像头,用它将放大后的微孔图像通过图像采集电路输入到计算机中,通过手工鼠标划线或刻度尺等方法确定微孔孔径的起始点和终止点位置,进而计算得到微孔孔径,这种方法虽然提高了测量精度,但它仍未实现自动测量功能,存在着操作繁琐,效率低等缺点。 我们采用数字图像处理技术实现对微孔孔径自动测量的方法,并可以有效地减少微孔周围的椒盐噪声对测量精度的影响。具体操作方法中要操作人员将放大调焦后的微孔图像显示在计算机的屏幕上(显示位置无任何要求)并且按测量按钮即可完成微孔的测量。 一、主要技术指标 1.测量范围:   5um-400um 2.测量重复性:±2um(400um测量范围下) 3.可以进行打印 4.可以进行处理前或处理后图像的存储以及打印 5.可以自动生成数据库 二、适用范围 1.适用于孔类器件的快速测量 2.改进后适用于孔类器件的全自动实时测量
上海理工大学 2021-04-11
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