通过溶剂热方法，成功制备出一种层间距宽化并富有缺陷的1T-VS 2 纳米片，展现出优异的电催化析氢性能。由于有机溶剂分子以及在反应过程中产生的铵离子等的插层作用，该溶剂热法制备出的VS 2 纳米片层间距宽化至1.0 nm，比块体VS 2 材料的层间距（0.575 nm）增加了74%。层间距的宽化引起晶格的畸变而引入众多的缺陷，丰富的缺陷赋予VS 2 纳米片更多的活性位点，层间距的宽化还进一步改变了VS 2 材料的电子结构，从而使得该VS 2 纳米片具有更加优化的氢吸附自由能（∆ G H ）。HER测试结果表明，该VS 2 纳米片呈现出优异的电催化性能，具有较小的塔菲尔斜率（36 mV dec −1 ）、具有较低的过电位（-43 mV@10 mA cm −2 ）和良好的稳定性（60 h）。此外，通过第一性原理计算的结果表明，层间距宽化的VS 2 具有更优化的∆ G H （-0.044 eV），媲美贵金属Pt(如图3 ). 。并且，层间距的宽化可以降低缺陷形成能，使材料更易形成缺陷。这里，理论计算结果和实验相一致，较好地证明了通过层间距和缺陷的精细调控，可以有效提升二维材料的电催化析氢反应活性, 揭示了层间距和缺陷结构调控对提升电催化析氢的基本原理。此项研究工作为层状二维材料的晶体和缺陷结构精准调控研究提供了新思路，为开发高性能电催化析氢材料研究打开了一扇新窗户。

本发明公开了一种 III-V 族量子点诱导生长钙钛矿晶体的方法， 包括以下步骤：(1)将 III-V 族量子点分散于非极性溶剂中得到量子点溶 液，将无机配体溶解于极性溶剂中得到无机配体分散液，再将量子点 溶液与无机配体分散液混合搅拌，极性溶剂所在层即对应第一前驱体溶液；(2)将 PbX2 与 MAX 均匀分散于极性溶剂中得到第二前驱体溶 液；(3)将第一前驱体溶液与第二前驱体溶液混合后利用反溶剂法生长 晶体，从而在

本发明公开了一种基于聚焦电流法的减小视电阻率测量误差的 系统和方法，该系统包括反馈控制电路、驱动电路、测量电路、测量 电极、屏蔽电极所构成。在地质前探中，在护盾的前部和尾部分别设 置屏蔽电极和测量电极，并且在前部和尾部的同一圆周线上设置成对 的电压监测点，驱动电路分别给屏蔽电极和测量电极通电流，测量电 路测量各对电压监测点的电位差ΔV，反馈控制电路根据所测得的电位 差，反馈调节的电流，使各点V的总体相对变化Σai(ΔVi)² 最小，从而维持屏蔽电极与测量

电输运性质测量系统TESTIK-9 产品概述： 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ TESTIK-9系列电输运性质测试系统是集霍尔效应、磁阻、变温电阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统。系统考虑了集成一体性、屏蔽防干扰能力和操作人性化等用户经常忽略的问题，选取了美国Keithley的电测量仪表，磁场根据用户需要采用电磁铁或无液氦超导磁体，配备灵巧的测量样品杆和快速插拔样品卡，加上全自动化的专用测试软件，能让用户快速方便地进行电输运测试，并获得准确可靠的数据。此外，TESTIK-9系列还有多种高低温温度环境选件。TESTIK-9系列电输运性质测试系统是广大科研工作者对材料进行电输运性质研究的理想选择。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 产品特点： 可以进行霍尔效应、R-H特性、R-T特性和I-V特性的测量，可得出参数：方块电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度和导电类型，可绘制以上参数随温度或磁场的变化曲线，以及I-V特性——不同磁场和不同温度下的I-V特性曲线，R-H特性——固定温度，电阻随着磁场变化的特性曲线，R-T特性——固定磁场，电阻随着温度变化的特性曲线。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 产品功能： 1·电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率测试遵从美国材料与试验协会ASTM-F76标准 2·电阻测量范围宽：100nΩ（低电阻选件）～ 100GΩ（高阻系统）； 3·使用插入式样品卡，样品安装方便，同时提供四探针卡，免去制作电极的麻烦 4·标准系统一次可以同时测量2个样品，增加选件可同时测量4个样品； 5·测量和计算过程由软件自动执行，3分钟即可得到一个霍尔效应数据； 6·提供长时间高稳定性的磁场，24小时稳定性<±0.5G，并且磁场能够平滑过零 7·电磁铁电源内置高斯计，磁场从0到1kG只需20S即可控制在0.1G以内； 8·选择温度选件，可以进行不同温度下的霍尔效应和电阻的测量。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 产品参数： 型号 TESTIK-9A TESTIK-9B TESTIK-9C 物理学参数 迁移率 1 ~ 1 × 106 cm2/vs 载流子浓度 6 × 1012 ~ 6 × 1023 cm-3 霍尔系数 ±1 × 10-5 ~±1 × 106 cm3/C 电阻率 5 × 10-9 ~ 5 × 102 Ω·cm 电学参数 电阻 0.1mΩ ~ 10MΩ 低电阻选件 100nΩ ~ 10MΩ 电流源 ±50pA~±1A(±1.05A@±21V, ±105mA@±210V) 电压源 ±5μV~±200V(±21V@±1.05A, ±210V@±105mA) 电流测量 ±10pA~±1.05A（10pA为分辨率极小值） 电压测量 ±1nV~±100V（1nV为分辨率极小值） 磁场环境 室温磁场 1T@10mm间距 2.4T@10mm间距 2.6T@10mm间距 变温磁场 0.44T@液氮恒温器 0.26T@闭循环恒温器 1.7T@液氮恒温器 1.1T@闭循环恒温器 2.0T@液氮恒温器 1.5T@闭循环恒温器 温度（选件） 单点液氮盒 77K 液氮恒温器 80K~325K（标准型），80~500K（高温型） 闭循环恒温器 4K~325K（4K型），10K~325K（10K型） 高温炉 325K~1000K 其他 样品尺寸极大值 10mm*10mm*3mm 30mm*30mm*3mm 50mm*50mm*3mm 样品数量 1个 占地面积 2m*1.5m 5m*2m 5m*2m 选项附件： 1·材料在不同温度下的电输运性质正在被广泛研究。锦正茂提供四种温度环境。 2·液氮盒：样品可以直接泡在液氮里（77K）进行电输运测试。 3·液氮恒温器：如果需要详细研究材料的变温性质（80K~500K），可以选择液氮恒温器。液氮恒温器15分钟即可降至80K，结构轻巧，使用方便，同时有高温型可选择。 4·闭循环恒温器：如果需要详细研究材料的变温性质（2.8K~325K），可以选择闭循环恒温器。采用日本住友公司的压缩机和冷头，温度下等低达2.8K，不同的样品台和真空罩适用于不同的测试环境，如电学、光学或两者兼顾。 5·高温炉：锦正茂还自主研发用于电输运系统里的高温炉（325K~1000K），辐射加热受热均匀，内有四根可单独调整的探针，接触牢靠。通常用于高温霍尔效应的研究。 6·在电输运测量中，有些材料在不同波长的光下能得出不同的参数。这就需要在磁场或低温环境下引入光。 7·含光路的极柱和极头：在电磁铁的极头上开一个孔作为光路，使样品垂直于磁场时，光也能垂直照射在样品上。 8·遮光盒：室温下，如果样品对自然光敏感，建议选择遮光盒选件。低温下，恒温器的真空罩本身拥有遮光的作用。 9·旋转：室温下，标配的样品杆可以手动旋转。如果要准确测试磁阻材料的各向异性，可选择电动旋转样品杆。低温下，可以使温度选件固定，旋转电磁铁，实现旋转磁场的环境。 10·真空泵：恒温器一般需要在真空环境下获得高低温，真空泵是必须的。锦正茂提供干泵、机械泵和分子泵组等一系列产品，满足电输运系统里各种低温选件的需求。 11·循环水冷机组：用于磁场平台和低温平台的设备冷却。 电输运性质测量系统是一种用于物理学、化学、材料科学领域的物理性能测试仪器， 可以进行霍尔效应、I-V特性（电阻率）及磁电阻（MR）的测量； 可得出参数：霍尔效应――方块电阻、电阻率、霍尔系数、导电类型、霍尔迁移率、载流子浓度；I-V特性的MR的特性曲线包括：不同磁场下的I-V特性曲线；不同温度下的I-V特性曲线；不同磁场下的变温I-V特性曲线；不同温度下的变磁场I-V特性曲线；电阻随温度、磁场变化的特性曲线；P-B曲线。

您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ TESTIK-9系列电输运性质测试系统是集霍尔效应、磁阻、变温电阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统。系统考虑了集成一体性、屏蔽防干扰能力和操作人性化等用户经常忽略的问题，选取了美国Keithley的电测量仪表，磁场根据用户需要采用电磁铁或无液氦超导磁体，配备灵巧的测量样品杆和快速插拔样品卡，加上全自动化的专用测试软件，能让用户快速方便地进行电输运测试，并获得准确可靠的数据。此外，TESTIK-9系列还有多种高低温温度环境选件。TESTIK-9系列电输运性质测试系统是广大科研工作者对材料进行电输运性质研究的理想选择。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！     您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 系统功能： 可以进行霍尔效应、R-H特性、R-T特性和I-V特性的测量，可得出参数：方块电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度和导电类型，可绘制以上参数随温度或磁场的变化曲线。 可绘制曲线： I-V特性—不同磁场和不同温度下的I-V特性曲线； R-H特性-固定温度，电阻随着磁场变化的特性曲线； R-T特性—固定磁场，电阻随着温度变化的特性曲线。

一种黄铜矿类正单轴晶体制备红外非线性光学元件的定向切割方法，步骤包括：(1) 根据黄铜矿类正单轴晶体解理面{101}和{112}，利用带有吴氏网标尺的晶体标准极图和 X射线衍射仪θ-2θ连续扫描确定晶体的C轴方向；(2)将已确定C轴方向的晶体置于切 割机上，根据光学元件所需的相位匹配角θm朝近C轴方向转动样品台Δθ后进行切割， 获得光学元件初样，Δθ＝θ(101)-θm；(3)将光学元件初样置于X射线衍射仪样品台 上，测定光学元件初样切割面的回摆谱，获得衍射峰位值θ′及Δθ′，Δθ′＝|θ′- θ′(101)|；(4)光学元件的精加工，对光学元件初样切割面进行修正，直至Δθ′＝Δθ。

一种黄铜矿类负单轴晶体制备红外非线性光学元件的定向切割方法，步骤包括：(1) 根据黄铜矿类负单轴晶体解理面{112}和{101}，利用带有吴氏网标尺的晶体标准极图和 X射线衍射仪θ-2θ连续扫描确定晶体的C轴方向；(2)将已确定C轴方向的晶体置于切 割机上，根据光学元件所需的相位匹配角θm朝远C轴方向转动样品台Δθ后进行切割， 获得光学元件初样，Δθ＝θm-θ(112)；(3)将光学元件初样置于X射线衍射仪样品台上， 测定光学元件初样切割面的回摆谱，获得衍射峰位值θ′及Δθ′，Δθ′＝|θ′- θ′(112)|；(4)光学元件的精加工，对光学元件初样切割面进行修正，直至Δθ′＝Δθ。

成果描述：通过对QCM（石英晶体微天平）技术和检测标的物的化学特性的研究，课题组成功研制出一种基于石英晶体微天平（QCM）的生物医学农业等多领域快速低成本检测技术新型自动检测系统。课题组与中国农业科学院和四川大学生物治疗国家重点实验室建立了良好的长期合作关系。所研制的系统已经在中国农业科学院和四川大学生物治疗国家重点实验室的配合下完成了测试和实验，拿到了大量实验数据资料，完成了系统效能评估。经过实验得到数据说明了课题组研制的测试系统具有实时性好、分辨率高、成本低、体积小、操作方便等优点。该测试系统的检测精度可以达到纳克级别。 以在重金属检测领域中的应用为例，国外目前对重金属离子的定量检测主要有紫外可分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子荧光法（AFS）、电感耦合等离子体法（ICP）、Ｘ荧光光谱（XRF）和电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）等。我国对重金属污染十分重视，目前国内对重金属离子的定量检测主要还是借鉴国外一些常用的检测方法。但是这些检测方法价格普遍昂贵、操作相对繁琐且检测限仅可达纳克（ng）级。国家每年都要花费大量的财力、人力和物力来检测各种领域里的重金属。该测试系统的研制成功将会提供一种全新的、低成本的、简单有效的检测重金属的方法。该成果不仅可以应用于农产品中的重金属离子检测，其在环保和生化领域同样拥有极大的应用前景。

研发阶段/n内容简介：纳米线碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管涉及一种新型功率半导体器件制造技术。结合微电子技术工艺，构造用纳米线碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管。它具有高速、耐苛刻环境、低导通电阻等一系列特点，广泛用于数字电子技术等领域。本产品获得一项专利，专利号：200510018701.9。