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光洁度检测仪器/表面光洁度仪
产品详细介绍 SITA表面光洁度仪介绍 表面光洁度仪是一款操作简便的手持式零件表面洁净程度的测试仪器。金属或者其它材料的零件表面洁净程度以百分比形式输出。 由于玷污物的荧光特性，通过一个含紫外光波的LED灯照射，SITA表面光洁度仪 即可探测出玷污物。仪器探头里的光电二极管负责测量UV荧光的强度。UV荧光越强表示污染程度越大，反之则越洁净。 SITA 表面光洁度仪 – 测量原理 紫外线照射后产生的荧光是一种特殊形态的冷光。当荧光分析的电子吸收了光子后能量提高，但是这种状态并不稳定，它会马上变回初始状态并把吸收的能量再次释放出来，发出荧光。由于部分能量转化成热量消耗了，所以发出的光线能量降低，波长也变长了。 对于平常清洁过程中的玷污物，SITA表面光洁度仪的参数已经设计得最合适。对于特殊的检验要求，它也可能适合LED的波长。由于有机物被UV光激发后具有很强的自体荧光特性，因此仪器能够检查出油、油脂和残余表面活性剂的玷污物。此外，它也可能用于检查腐蚀或者已知厚度的蜡层。 下图是冷却润滑油在365nm波长下激发的荧光光谱图。由于它在460nm波长下的荧光强度非常强，所以用SITA表面光洁度仪 在此波长下最容易检测到这种润滑油玷污。 SITA表面光洁度仪 的测量原理 SITA表面光洁度仪 的测量原理是共焦法，即激发光线和被激发而产生的光线在同一平行辐射轨迹上。因此，探头的灵活定位和在线测量都易于实现。基于这种测试原理，对于构成中不含或者含有轻微荧光性原料的零件，仪器都可以检测其清洁度。
佛山市翁开尔贸易有限公司
2021-08-23
贵州省科技厅关于印发贵州省科研失信行为调查处理工作指引的通知
为贯彻落实科技部等20个部委印发的《科研失信行为调查处理规则》(国科发监〔2022〕221号)，进一步规范我省科学技术活动中科研失信行为的调查处理工作，提高我省科技管理部门科研失信行为调查处理工作的统一性与规范性。
贵州省科学技术厅
2022-10-11
东北大学2022年第三批科研设备采购项目——热模拟试验机（进口）公开招标公告
东北大学2022年第三批科研设备采购项目——热模拟试验机（进口）招标项目的潜在投标人应在辽宁工程招标有限公司110房间，疫情期间建议采用网上报名方式，我公司见报名邮件后通过邮箱发送招标文件获取招标文件，并于2022年07月12日09点30分（北京时间）前递交投标文件。
东北大学
2022-06-21
上海市政府常务会研究健全完善科研经费管理制度，加快科技体制机制改革
切实为科研主体“松绑”“解绑”
解放日报
2023-02-07
教育部部长怀进鹏：发挥高校在科技创新中的主力作用，推动和加强有组织科研
加快建设教育强国 为全面建设社会主义现代化国家提供基础性、战略性支撑
《党委中心组学习》
2023-01-09
科研进展 | 西湖大学马丽佳团队开发“PEAC-seq”鉴定体内CRISPR基因编辑引起的脱靶和染色体易位
西湖大学生命科学学院马丽佳研究员和团队成员们也一直在寻找新方法，希望克服以上缺点，优化基因编辑脱靶位点的检测。
西湖大学
2022-12-19
《海南省赋予科研人员职务科技成果所有权或长期使用权试点实施方案》
通过3年试点，推动建立健全赋予科研人员职务科技成果所有权或长期使用权的机制和模式
海南省科学技术厅
2023-10-25
硅基悬臂梁耦合直接加热式毫米波信号检测仪器
本发明的硅基悬臂梁耦合直接加热式毫米波信号检测仪器是由传感器、模数转换和液晶显示三大模块组成，传感器模块是由悬臂梁耦合结构、功率分配／合成器、直接加热式微波功率传感器和开关构成，衬底材料为高阻Ｓｉ，功率通过输入端口对应的ＣＰＷ信号线终端的直接加热式微波功率传感器进行检测；频率检测通过利用直接加热式微波功率传感器测量两路在中心频率处相位差为９０度的耦合信号的合成功率实现；相位检测通过将两路在中心频率处相位差为９０度的耦合信号，分别同两路等分后的参考信号合成，同样利用直接加热式微波功率传感器检测合成功率
东南大学
2021-04-14
硅基悬臂梁耦合间接加热式毫米波信号检测仪器
本发明的硅基悬臂梁耦合间接加热式毫米波信号检测仪器是由传感器、模数转换和液晶显示三大模块组成，传感器模块是由悬臂梁耦合结构、功率分配／合成器、间接加热式微波功率传感器和开关构成，衬底材料为高阻Ｓｉ，功率通过输入端口对应的ＣＰＷ信号线终端的间接加热式微波功率传感器进行检测；频率检测通过利用间接加热式微波功率传感器测量两路在中心频率处相位差为９０度的耦合信号的合成功率实现；相位检测通过将两路在中心频率处相位差为９０度的耦合信号，分别同两路等分后的参考信号合成，同样利用间接加热式微波功率传感器检测合成功率
东南大学
2021-04-14
一种用于光学测量仪器样品台校准的系统及其方法
本发明公开了一种用于光学测量仪器样品台校准的系统及方法。在椭偏仪直通式的情况下进行光路系统的对准，包括前光路和后光路的对准；在椭偏仪斜入射式粗调样品台上的旋钮，使得检偏臂光学接收器孔能够接受到一部分光束；微调样品台上的旋钮，使表示光束的十字光标出现在中心位置；以 l 为步长令系统前部和系统后部在 Z 轴方向上进行扫描，并记录在每个高度位置时探测器接受到的总光强，绘制出一条光强曲线，系统自动选取光强值最大点处为样品台最优相对高度位置。系统主要包括光源，起偏臂，前置四象限探测器，检偏臂，分光镜，内置四象
华中科技大学
2021-04-14