利用该微泡在大鼠AMR模型中首次实现了C4d的无创定性和定量检测。本研究利用链霉亲和素-生物素偶联的方法制作出C4d靶向微泡（结合率91.0±2.5%）。利用BN→Lewis大鼠皮肤移植预致敏2周后行肾移植建立体液性排斥模型，检测肾移植术后多个时间点C4d的沉积并根据Banff标准进行半定量分级，在C4d为0、1、2、3级的时间点分别尾静脉注射C4d靶向微泡和对照微泡，利用爆破-补偿的方法进行分析，得出C4d在移植肾内沉积的信号强度，实现其无创定量检测。

本项目聚焦生物医学工程产业，围绕分子影像成像核心领域，致力于研发具有完全独立知识产权的光声医学影像产品，本技术的产业化对提升我国在该领域的全球竞争力具有重要的促进作用。采用超短脉冲激光照射生物组织产生热弹膨胀，引发宽带超声信号（即光声信号），据此重建生物组织的结构和功能图像。光声成像的独特价值在于能够表现生物组织的化学和功能信息（如血氧代谢信息等），对疾病（如乳房癌等）早期检测和和诊断具有重要意义。创新优势体现在首次提出光谱与声谱融合的光声图像分析方法，首次提出光声图像与超声图像互补信息融合的方法

全血中检测细胞因子的含量和动态分泌过程有助于在分子水平阐明免疫调节机制，为临床生物分析新方法的开发与疾病的诊断、监测和治疗提供有力支持。 酶联免疫分析法（ELISA）简单迅速，可高度定量化且易于标准化，是生物医学研究和临床诊断中最为常用的体外检测的方法。

XM-TMA诊断性刮宫监测考核指导模型   功能特点： 1、诊断性刮宫监测考核指导模型采用优质材料制成，腹腔内有早期妊娠子宫，解剖位臵准确，皮肤柔软有弹性，手感逼真。 2、早期妊娠子宫内设有模拟病变，供操作者训练，可客观地评价操作者实施诊断性刮宫的质量是否达标。

产品概述： 锦正茂高低温真空磁场探针台是具备提供高低温、真空以及磁场环境的高精度实验台，它的诸多设计都是专用的。因此，高低温磁场探针台的配置主要是根据用户的需求进行选配及设计。例如，要求的磁场值，均匀区大小、均匀度大小、样品台的尺寸等，均于磁力线在一定区域内产生的磁通密度相关联；位移台还可与磁流体密封搭配，实现水平方向二维移动和样品台360度转动；除此之外，该探针台和我司自主研发的高精度双极性恒流电源搭配使用户，可以磁场的高稳定性。因此，该类型的探针台主要依据客户的使用情况进行设计优化。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 锦正茂高低温真空磁场探针台探针台配备4个（可选6个或8个）拥有高精度位移的探针臂，同时配有高精度电子显微镜，便于微小样品的观察操作。探针可通过直流或者低频交流信号，用来测试芯片、晶圆片、封装器件等，广泛应用于半导体工业、MEMS 、超导、电子学、铁电子学、物理学、材料学和生物医学等领域。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 应用范围： 磁特性测试、微波特性测试、直流、RF特性测试，微电子机械系统，超导电性测试，纳米电路的光电属性，量子点和线，高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 可选附件： þ 各类DC探针、高频探针、主动式探针、电缆线 þ CCD或C-MOS视频成像装置 þ Chuck运动装置 þ 电磁铁系统/超导磁铁系统 þ 1Mpa正压系统升级 þ 超高温升级选件 þ 超高真空升级选件 þ 各类探针夹具 þ 屏蔽箱 þ 防振桌 þ 转接头 þ 静音真空泵 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！

产品详细介绍  JHT—DDC单人单面超净化工作台（垂直）   这是一种供单人操作的通用型局部净化设备，气流形式为垂直层流，它可造就局部高清洁度空气环境，是科研制药、医疗卫生、电子光学仪器等行业最为理想的专用设备。 特点： 1、操作区为全不锈钢 2、外型美观结构合理 3、采用自定们上下推拉门系统 4、风量可调，双侧电源插座   技术指标：   型号   JHT--DDC 外形尺寸 900×800×1630 工作台尺寸 870×650×570 洁净等级 100级@≥0.5ｕm(美联邦209E) 平均风速 0.3—0.5m/s(可调) 噪音 ≤65dB(A) 振动 ≤3ｕm 照明 ≥300LX 电源 220V 50HZ 消耗功率 ≤360W 紫外线 30W×1 照明 30W×1 备注 不锈钢台面，双侧电源，上下推拉门  

加速退化试验是在失效机理不变的基础上，通过寻找产品寿命与应力之间的关系(加速模型)，利用产品在高(加速)应力水平下的性能退化数据去外推和预测正常应力水平下的寿命特征的试验技术和方法。高可靠长寿命是航空产品研制的共同要求，如：民用大型飞机的寿命要求为5-6万小时，且在较长的寿命周期内能重复使用。传统的基于二元失效数据(正常和故障)的可靠性分析方法己经难以应用。产品的失效往往表现为其性能逐步退化直至完全失效的过程，如元器件电性能的衰退、机械元件的磨损、绝缘材料的老化、金属材料的腐蚀、疲劳裂缝增长等。在性能退化过程中蕴含着大量的寿命与可靠性信息。因此，根据退化试验数据识别产品性能退化过程，通过分析产品失效与性能退化之间的关联来推断产品寿命与可靠性的加速退化试验方法，是解决高可靠度长寿命产品寿命与可靠性评价的重要手段。