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纳米二氧化硅／硼酚醛树脂纳米复合材料的制备方法
本发明属于无机／有机纳米复合材料技术领域，具体涉及一种纳米 SiO2／硼酚醛树 脂纳米复合材料及其制备方法。本发明采用了溶液共混法和超声波辅助分散法相结合， 确保纳米颗粒在复合材料中得到纳米级分散；纳米 SiO2表面经过处理，使纳米 SiO2与基 体树脂硼酚醛树脂之间形成了良好的界面，可以充分发挥出纳米 SiO2、硼酚醛树脂的优 点。本发明的目的在于通过合理的工艺控制，制备出纳米 SiO2含量不同的硼酚醛树脂纳 米复合材料。利用纳米 SiO2的刚性、耐磨性、热化学稳定性和硼改性酚醛树脂的良好的 力学性能、耐热性和耐烧蚀性等优点，制备出的纳米 SiO2／硼酚醛树脂纳米复合材料可 广泛用于高温制动摩擦材料、耐烧蚀材料、特种结构材料、防热材料等众多领域。
同济大学
2021-04-11
低温无压烧结纳米陶瓷用高烧结活性复合纳米ZrO2粉末微球
研发阶段/n本发明涉及一种低温无压烧结纳米陶瓷用高烧结活性复合纳米ZrO2粉末微球的一步合成法，其利用乳浊液法控制团聚粉末的形状（球形），利用均匀沉淀法控制一次纳米颗粒的大小、团聚和粒径分布，利用共沉淀法控制团聚粉末的成分与结构的均匀性，从而一步合成复合纳米ZrO2(CaO,MgO)软团聚粉末微球，将制粉和造粒过程一步完成。本发明涉及的方法可以有效解决低温无压烧结制备纳米陶瓷这一难题，大大加快纳米ZrO2陶瓷的实用化进程。
湖北工业大学
2021-01-12
一种适用于纳米材料操控的多自由度纳米操作台
本发明公开了一种适用于纳米材料操控的多自由度纳米操作台，包括底座、Z 向位移台、XY 向位移台和纳米操作臂，其中 Z 向位移台沿着竖直方向设置在底座上，包括彼此连接的固定部件和安装有 Z 向直线驱动电机的移动部件；XY 向位移台沿着水平方向设置在 Z 向位移台的移动部件上，并包括彼此并联滑动连接的第一至第三并联部件，其中第一并联部件上安装有 Y 向直线驱动电机，第二并联部件上安装有 X 向直线驱动电机，第三并联部件上安装有旋转运动驱动电机和纳米操作臂。本发明通过对驱动电机与位移台的高精度控制以及主要
华中科技大学
2021-04-14
哈尔滨工程大学高分辨光谱成像设备采购及服务竞争性磋商
哈尔滨工程大学高分辨光谱成像设备采购及服务竞争性磋商
哈尔滨工程大学
2022-06-06
一种高光谱图像端元个数自动估计的端元提取方法
本发明公开了一种高光谱图像端元个数自动估计的端元提取方 法，首先使用 PPI 算法计算高光谱图像中所有像元的 PPI 值，根据像 元的 PPI 值确定初始候选端元集，并对初始候选端元按 PPI 值由大到 小进行排序；然后依次剔除初始候选端元集中独立性最弱的候选端元， 同时获得随端元个数递减的候选端元集的重构精度曲线和端元独立性 曲线，通过寻找这两条曲线变化的显著性位置确定端元个数的取值范 围；最后利用 SGA 算法获取不同端元个数下的二次选择候选端元集， 根据这些候选端元集所构成的重构精度曲线，确定最终的端元个数， 同时获得最终的端元提取结果。本发明不需要事先给定端元的个数， 有利于端元提取的自动化处理，同时提取的端元准确性高。
华中科技大学
2021-04-11
一种利用多光谱图像分类的典型地物参考图的制备方法
本发明公开了一种利用多光谱图像分类进行典型地物参考图制备的方法，从多光谱图像提取出感兴趣类作为地标，并制备出包含所述地标的参考图，以用于目标的间接定位识别，该方法具体包括：从多光谱图像中选择感兴趣类，提取其光谱-空间纹理特征，根据提取的光谱-空间纹理特征对多光谱图像进行分类；在分类基础上，提取完整的感兴趣类，并依据地标选取准则选择用作地标的感兴趣类；根据地标材质类型，利用红外辐射公式计算出地标在大气参数条件下的红外
华中科技大学
2021-04-14
一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法
本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度 的方法，通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率，以及采用光谱 分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和，获取光谱 分析仪的校正分辨率；并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率， 获取光信噪比，提高其测量精度；本发明提供的这种基于光谱分辨率 校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分 辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题；本发明提 供的方法适用于所有光谱分析仪分辨率的校正，也适用于所有基于光 谱分析的光信
华中科技大学
2021-04-14
一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法
本发明公开了一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法，方法是将起偏臂产生的调制光线投射到待测样件表面，检偏臂将待测样件反射(或透射)的光线解调并接收，通过对测量光谱进行谐波分析，计算获得待测样件的全穆勒矩阵信息，并通过非线性回归，库匹配等算法拟合提取待测样件的光学常数，特征形貌尺寸等信息。椭偏仪包括起偏臂(包括光源，透镜组，起偏器和伺服电机驱动的补偿器)，待测样件和检偏臂(包括伺服电机驱动的补偿器，检偏器，透镜组和光谱仪)。本发明可实现各种信息光电子功能材料和器件，以及纳米制造中各种纳米结构的在线
华中科技大学
2021-04-14
一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法
本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度 的方法，通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率，以及采用光谱 分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和，获取光谱 分析仪的校正分辨率；并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率， 获取光信噪比，提高其测量精度；本发明提供的这种基于光谱分辨率 校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分 辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题；
华中科技大学
2021-04-14
基于丰度显著性分析的高光谱图像解混方法及系统
本发明提供基于丰度显著性分析的高光谱图像解混方法及系统，包括建立待处理的高光谱遥感图像 的端元光谱库；用基于稀疏回归的混合像元分解方法对每个像元进行初步混合像元分解并按照丰度值的 大小降序排列，对排序后的丰度序列进行显著性分析，得到显著性丰度的临界值，然后根据预设的显著 性丰度阈值进行判断组成该像元的稀疏表示端元子集；最后采用丰度约束的最小二乘法再次进行混合像 元分解，将结果作为最终的混合像元分解结果。本发明可以得到更为稀疏和准确的像元表示端元
武汉大学
2021-04-14