产品详细介绍 应用于预防性维修和提高设备可靠性的 工业振动分析技术      背景：   工业振动分析技术是确定，预测和预防旋转型设备故障的一种检测工具。实施设备振动分析将会提高设备的可靠性和工作效率，减少停机时间，消除机电故障。振动分析技术是全球通用的工具用于确定设备故障，设定设备维修计划，使设备尽可能长时间地正常工作。     设备：   适用的设备包括：电机，泵组，风机，齿轮箱，压缩机，涡轮，输送带，辊筒，发电机及任何带有旋转组件的设备。检测电机轴承的振动状态这些设备的旋转组件都有各自特定的振动频率。而其振动幅度则代表该设备的工作情况或工作质量。振幅的扩大直接表示旋转组件例如轴承或齿轮发生了故障。根据设备的速度可以计算出旋转频率，对比检测到的频率即可确定设备发生的故障。  • 刀片转速乘积扰动  工业振动传感器  实施振动分析技术需要运用到各种振动传感器（加速度传感器，速度传感器或位移探测器）对旋转型设备进行检测和分析。工业上常用的是加速度传感器。加速度传感器的安装可以运用固定螺钉或便携式磁座。加速度传感器监测到设备的振动值后，以相对’g’（重力加速度单位)的形式输出与振动值成比例的电压或电流。该信号也可以积分成速度的形式（英寸/秒或毫米/秒）输出。 为每种应用情况选择合适的加速度传感器，电缆，连接器和安装方式十分关键。这样才能提供高质量的检测和准确的振动数据，确定旋转型设备的故障。滑动轴承的应用需要使用位移探测器来检测内部转轴的真实移动值。位移探测器的非接触型探针可以检测转轴的振动值， 轴间距和轴承内径。应用涡流原理，探针可以提供与位移（英寸或毫米）成比例的电压输出。   应用振动分析确定的故障：  通过检测分析旋转型设备产生的振动 信号可以确定下述几种设备故障。  • 设备不平衡  齿轮箱上的加速度传感器  • 设备不对中 • 共振 • 转轴形变 • 齿轮啮齿  • 叶片转速乘积扰动 • 流通量和气穴现象 • 电机故障（转子和定子 ） • 轴承故障  • 机械松动 • 重要设备的速度                监测冷却塔的振动值  动态振动分析：  动态振动的检测和分析需要应用加速度传感器检测振动值，数据采集器或动态信号分析仪来采集数据。数据的分析通常由受过旋转型设备振动技术培训的技术员或工程师完成。             加速度传感器的模拟电压输出，100毫伏/g，由数据采集器进行检测，以时间波形图和 FFT 快速傅立叶变换图来表示，便于确认频率特性。The plots of amplitude vs. time, (Time振幅相对于时间（时间波形图），和振幅相对于频率(FFT)的图形必须由经过培训的技术员或工程师进行分析,并确定设备故障.由于每种设备产生各自独特的振动频率,分析其振动频率的不稳定变化可以判断故障所在. 一旦确定故障就可以定购备件,制定维修计划. 动态振动分析可以由好几种方式来实现。   监测电机和风扇的振动值  • 便携式传感器和便携式数据采集器，按照预先设定的机械检测途径 • 永久式传感器和便携式数据采集器，按照预先设定的机械检测途径 • 永久式传感器和永久式数据采集器，为设备提供每天 24 小时，每周 7 天，每年 52周的保护。    过程振动警报：  最新的预测性维修和可靠性技术的进展是利用现有的过程控制系统（如 PLC, DCS, & SCADA）。这样能使生产，维修和过程控制团队对关键设备的振动值进行监测并报警。 Time Waveform  FFT通过标准 4-20 毫安的输出,回流电源振动信号发生器和传感器能提供和设备总振动值成比例的输出电流. 此电流输出不是动态的模拟信号,无法用来分析设备故障,  但可以在设备振动值过高时进行报警. 当过程控制系统检测到较高的振动值,可以及时采取措施判断振动值的原因或停机,避免设备损坏或出现故障. 4-20 毫安的回流电源输出可以通过下面三种方式实现. • 将带有 100 毫伏/g 的模拟输出动态加速度传感器连接到信号发生器.发生器提供信号调制及 4-20 毫安与振动值成比例的电流输出,并且带有不同频率过滤器,可以在不同关注区域报警. 100 毫伏/g 的动态信号可供受训过的技术员或工程师分析. 用回流电源传感器监测轴承的振动值 • 使用带有 4-20 毫安输出的回流电源传感器.该传感器无须使用信号发生器, 但频率过滤器范围限制在 10 – 1000 Hz和  3 – 2500 Hz之间. • 也可以使用带有直流-20 毫安输出和100 毫安/g 动态输出的双输出回流电源传感器.该传感器无须使用信号发生器, 但频率过滤器范围限制在 10 – 1000 Hz和 3 – 2500 Hz之间. 100毫伏/g 的动态信号可供受训过的技术员或工程师分析. 无论你选择哪种方式, 都可以获得 4-20毫安与振动值成比例的电流输出用于过程控制.这样工厂可以充分利用传统的过程控制监测方式和报警系统. 这是关键设备的便捷报警方式!  过程振动报警图    总结  振动分析并不是一项新技术. 早在 1880年居里兄弟就发现了特定材料的压电效应和 电荷输出. 1923 年第一台加速度传感器就问世了.在过去的 100 年里,这项技术经过不断提炼, 能为当今工业旋转型设备的振动状态提供快速高效的检测. 每年各种传感器纷纷问世,它们的设计能适用恶劣的工业环境,为关键设备提供重要检测. 电缆和连接器都采用最强硬的材料,在传感器和数据采集之间提供的重要连接.选择适用任何环境的合适的电缆和连接器, 使数据传输没有后顾之忧. 安装硬件具有很广泛的应用范围.便携式磁座或快速接座能实现快捷的检测. 永久性传感器安装可以使用环氧粘,螺栓,或特殊设计的永久安装硬件.                                接线箱是非常有用的工具,它能收集多种电缆, 归类并保护电缆,方便用户接入,并且防止电缆缠绕, 能确认每个检测点. 动态振动分析或过程振动报警一项成熟的技术,它能预测旋转型设备故障,提高设备的可靠性.  使用CTC工业振动传感器,电缆,连接座,安装硬件和接线箱,保护你的投资! 失效的电机轴承 别让这发生在你的设备上 !  公司名称：上海维逸机电设备有限公司 公司地址：上海市闸北区大统路988号A座1509 公司网址：http://www.novachn.com/ 联系电话：021-61434131 联系人：  朱小姐

产品详细介绍该仪器已获国家专利，专利号201120337217.3。  产品介绍:         差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。卞舒芹15312021471技术参数:  1. 温度范围: 室温~1150℃   2. 量程范围: 0～±2000μV    3. DTA精度: ±0.1μV     4. 升温速率: 1～80℃/min   5. 温度分辨率: 0.1℃   6. 温度准确度: ±0.1℃   7. 温度重复性: ±0.1℃    8. 温度控制: 升温：程序控制  可根据需要进行参数的调整              降温：风冷  程序控制                恒温：程序控制  恒温时间任意设定 9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作 10.气氛控制: 内部程序自动切换 11.数据接口: 标准USB接口  配套数据线和操作软件 12.显示方式: 24bit色 7寸 LCD触摸屏显示 13.参数标准: 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正 14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线 15.工作电源: AC 220V  50Hz

在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度的函数关系的仪器。主要测量与热量有关的物理、化学变化，如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性（氧化诱导期）、玻璃化转变温度等变化。液晶屏实时显示炉温与样品温度、气路状态等。HCR-2、​HCR-3、HCR-4可分别在1250度或1550度恒温72小时。温度范围：HCR-1室温～1150℃、HCR-2室温～1250℃、HCR-3室温～1450℃、HCR-4室温～1550℃

本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测 量方法，可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参 数进行非接触、非破坏的测量。首先，通过仿真分析的手段，选出最 优测量配置与最优等效介质模型；其次，将上述仿真结果运用于实际 纳米结构的测量，包括：在最优测量配置下，对实际纳米结构进行光 学散射测量，获得测量光谱；运用基于最优等效介质模型的参数提取 算法，对测量光谱进行分析，获得提取参数的数值；通过提取参数与 待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射，获得待测 参数的数值。 

本发明公开了一种光学散射测量中粗糙纳米结构特性参数的测量方法，可以对 IC 制造中所涉及纳米结构的结构参数和粗糙度特征参数进行非接触、非破坏的测量。首先，通过仿真分析的手段，选出最优测量配置与最优等效介质模型；其次，将上述仿真结果运用于实际纳米结构的测量，包括：在最优测量配置下，对实际纳米结构进行光学散射测量，获得测量光谱；运用基于最优等效介质模型的参数提取算法，对测量光谱进行分析，获得提取参数的数值；通过提取参数与待测参数间稳定性最佳的映射关系式对提取参数进行映射，获得待测参数的数值。

本发明涉及一种电液伺服阀叠合量气动测量装置及方法。本装置及系统对电液伺服阀的进油腔或回油腔提供稳定的气压，驱动阀芯缓慢及微量的移动，采集阀芯运动过程中气体流量、阀芯位移数据，并进一步计算出电液伺服阀各工作边的叠合量。本装置及系统主要包括：电动平移台、接触式位移传感器、流量控制器、配气座、气动滑台、气爪、气路系统等。电动平移台带动阀芯做缓慢及微量移动；气动平移台实现工艺壳体的压紧、阀芯的夹紧、位移传感器与气爪的接

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FCP磁场控制平台产品概述： FCP磁场控制平台是根据磁控原理设计的理想磁测量系统，磁场范围超过3T，利用TESTIK475高斯计稳定磁场控制，适合各系列电磁铁配置，连续可变的电磁气隙，实心的和光学入口极帽，线型双极，真实四象限电磁铁电源。 FCP磁场控制平台磁测量系统磁光测量仪器 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ TESTIK475型高斯计努力保持确切的磁场密度，用户输入的控制设定点，用G、T、Oe、A/m来表示。北京锦正茂的电磁铁磁场控制平台集成了硬件和控制部件来形成一个变化的磁场平台，可以被独立的被利用或做为用户设计的测量系统的一个基础。FCP磁场控制平台磁测量系统磁光测量仪器 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ FCP磁场控制平台标准配置： TESTIK475有1个计算机接口：RS-232串口:。这个接口可以设置所有仪器参数和测量值得读回。在磁场控制期间，接口的读数率是额定每秒30个读数。475的LabVIEW驱动是提供的（选配）。磁场控制平台不含应用软件。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”，就能看到我们的企业店铺，联系更加方便快速！ 锦正科技以现代高科技产业和传统产业为核心业务，对内承接科研生产任务，对外以商务平台方式实现军民两用技术成果转换，形成了科学管理的现代化经营模式，专门从事物理、化学和材料等领域的科学仪器研发、销售各类型超低温测试设备（液氮 液氦）制冷机系统集成 ，定制 ，高低温真空磁场发生系统，Helmholtz线圈（全套解决方案），电磁铁（全系列支持定制），螺线管，电子枪（高稳定性双极性磁铁恒流电源1ppm），高低温磁场真空探针台，霍尔测试系统，电输运测量解决方案，磁光克尔效应测量系统等产品种类齐全，性能可靠，至今已有近10余年的历史，是国内（较早）生产探针台，电输运，电磁铁的厂家之一。    

技术简介 近年来随着智慧城市、高精地图、无人驾驶等行业的快速发展，移动测量系统作为一种高新的测绘地理信息装备在测绘地理信息生产中的作用也日益突出，是当今测绘领域最前沿的科技之一。该传统集成了激光扫描仪、工业全景相机以及定位定姿等多种传感器，能够在移动状态下实时主动地获取近景目标的空间坐标、属性数据及实景影像等多种信息。 本系统可用于高精地图数据采集、处理及地图构建，为无人驾驶提供技术支撑，同时为实景三维、智慧城市提供数据采集、数据处理的技术支撑。应用场景包括1）高精地图数据获取； 2）实景三维； 3）智慧城市； 4）道路信息获取及病害检测； 5）城市部件；6）地籍测量。 道路移动测量采集系统 无人机移动测量系统 移动测量数据处理软件 移动测量多传感器采集软件 创新点及性能指标 （1）多传感器一体化系统集成架构 多传感器系统集成、数据采集与控制，涉及到基于网络交互的模块间解耦，实现负载均衡，并利用插件式架构实现传感器的可扩展适配。 （2）多传感器数据融合的并行运算 基于多线程机制实现I/O与数据运算间的并行，并通过多核CPU/GPU异构进行并行计算。 （3）多传感器数据的一体化融合 基于特征约束（匹配）的多传感器一体化标定，涉及到基于平面特征的激光扫描仪的外方位元素标定以及基于特征匹配的无控制点全景相机外方位元素标定。 （4）大规模点云数据的空间数据管理及实时渲染 基于八叉树结构实现内外存的点云空间数据管理，在此基础上基于点云数据实时预测调度和LOD结合对大规模点云进行实时渲染。

目前，实现对微孔测量的方法有多种，传统方法是操作者通过工具显微镜观察微孔的放大图像，利用人工进行测量。这种方法有效率低，精度不足，稳定性差等缺点；也有采用CCD摄像头，用它将放大后的微孔图像通过图像采集电路输入到计算机中，通过手工鼠标划线或刻度尺等方法确定微孔孔径的起始点和终止点位置，进而计算得到微孔孔径，这种方法虽然提高了测量精度，但它仍未实现自动测量功能，存在着操作繁琐，效率低等缺点。 我们采用数字图像处理技术实现对微孔孔径自动测量的方法，并可以有效地减少微孔周围的椒盐噪声对测量精度的影响。具体操作方法中要操作人员将放大调焦后的微孔图像显示在计算机的屏幕上（显示位置无任何要求）并且按测量按钮即可完成微孔的测量。 一、主要技术指标 1.测量范围：   5um-400um 2.测量重复性：±2um（400um测量范围下） 3.可以进行打印 4.可以进行处理前或处理后图像的存储以及打印 5.可以自动生成数据库 二、适用范围 1．适用于孔类器件的快速测量 2．改进后适用于孔类器件的全自动实时测量