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一种基于 RBAC 访问控制模型的用户信息访问控制方法
本发明公开了一种基于 RBAC 访问控制模型的用户信息访问控 制方法，应用于电子商务，包括以下步骤：1、安全服务器记录物流发 送方注册的基本信息，包括名称及各级网点分布；2、安全服务器将交 易方的用户信息保存至数据库；3、安全服务器将用户信息中的收货地 址划分为多个地址区段，并为物流发送方的各级网点指派角色，向不 同角色授予允许访问不同地址区段的权限；4、安全服务器建立交易链， 将收货方的用户信息以条码形式发送给物流
华中科技大学
2021-04-14
自动控制原理及计算机控制技术教学实验系统
采用独立一体化模式，将各种控制实验专用测量仪器集成在实验箱中，一个实验箱就能支持自动控制原理的全部实验，测量分析手段全面升级，全新信号源，升级控制计算机及其接口电路，更加符合现代主流系统应用的需求。
西安唐都科教仪器开发有限责任公司
2021-02-01
一种基于RBF神经网络预测控制的双进双出球磨机控制系统及控制方法
本发明公开了一种基于RBF神经网络预测控制的双进双出球磨机控制系统及控制方法，控制系统包括基于RBF神经网络模型的预测控制器、控制量初始化模块以及被控对象，被控对象为双进双出球磨机模型，其输出连续被控量经离散化后生成的离散被控量和被控量当前设定值输入控制量初始化模块和预测控制器，控制量初始化模块输出控制量初始值输入给预测控制器，预测控制器输出离散控制向量经零阶保持器转换为连续控制量输出给双进双出球磨机模型。控制方法采用RBF神经网络正向模型和RBF神经网络逆向模型实现对被控对象的预测控制。本发明可以对系统进行提前控制和调节，适用于大滞后系统的控制，被控量响应快、超调量小，同时具有良好的鲁棒性。
东南大学
2021-04-11
一种模态试验中多传感器附加质量消除方法
本发明提供了一种模态试验中多传感器附加质量消除方法，推导模态试验中多传感器质量影响消除公式，确定模态试验中布置的传感器个数及消除传感器质量的顺序，基于实测的频响函数根据消除公式逐一计算消除各传感器质量影响的频响函数。本发明首先基于Ｓｈｅｒｍａｎ?Ｍｏｒｒｉｓｏｎ公式推导传感器质量影响消除公式，根据公式实测所需的频响函数，代入公式依次逐一消除，最终实现多传感器质量消除。本发明实现了消除模态试验接触式测量方法中传感器附加质量造成的测量误差，通过对实测频响函数信号的处理消除了多传感器质量对频响函数的不利影响，具有实际工程意义。
东南大学
2021-04-11
一图了解|2023年，这样推动知识产权高质量发展
一图了解|2023年，这样推动知识产权高质量发展
国家知识产权局
2023-03-31
硫铝酸钙改性硅酸盐水泥的质量改进添加剂
硫铝酸钙改性硅酸盐水泥（S.M.P.）区别于通用硅酸盐水泥，矿物组成中引入了具有早强、快硬、微膨胀特性的无水硫铝酸钙矿物，具有早期强度高、微膨胀的优点，但同时存在凝结时间过短且不易控制、3d/28d强度增进率低等缺点。为确保S.M.P.的安定性合格，SO3的含量必须控制≤6%，此时S.M.P.的初凝时间也仅达到30min左右，难以满足应用需求。掺入一定量的混合材，如矿渣、粉煤灰后，凝结时间可延长，初凝时间可延长到60min左右（掺入30%的粉煤灰或30%的矿渣）。（刘晨，王昕，颜碧兰，等.JC/T《
南京工业大学
2021-01-12
离子注入技术辅助制备高质量石墨烯玻璃及其应用
本项目设计开发了一种石墨烯玻璃制备方法，通过利用离子注入技术，将过渡金属粒子注入到玻璃表面，然后在石墨烯生长过程中注入的金属粒子有效提升玻璃表面对于碳源的裂解能力，并且促进石墨烯晶畴的成核和生长。这种方法成功在二氧化硅、蓝宝石、石英玻璃等绝缘衬底上制备出高质量单层石墨烯。
北京大学
2023-02-27
用于胚胎发育质量评估的精子长非编码RNA检测方法
本发明提供了一种用于胚胎发育质量评估的精子长非编码RNA检测方法。提取受试者精液中的RNA，进行反转录反应，得模板cDNA进行实时荧光定量PCR，检测长非编码RNA分子LA16c390E6.5的表达与正常精子样本进行比较。临床通过精子的LA16c390E6.5表达能准确的预测胚胎发育的潜能，并对疗效检测与辅助生殖方式的选择有指导意义。
四川大学
2016-10-11
一种网络视频流的无参考图像质量在线估计方法
本发明公开了一种网络视频流的无参考图像质量在线估计方法。 所述方法利用 P 帧 PSNR 相对于 I 帧纹理复杂度和 P 帧运动量的线性 预测模型，估计网络视频流的 P 帧 PSNR 值；同时结合模型系数随 P 帧帧长和场景的变化而动态变化的规律，利用 I 帧的 PSNR 调整纹理 系数，利用上一 P 帧的运动系数和当前帧的运动信息调整当前帧的运 动系数，最终得出了较为准确的适应视频内容变化的 P 帧 PSNR 估计
华中科技大学
2021-04-14
基于光热成像的微电子封装工艺质量检测装置及方法
本发明公开了一种基于光热成像的微电子封装工艺质量检测装置，包括图像获取装置、工作台、控制装置及数据处理装置；其中图像获取装置包括支架横梁、平动电机、成像探头、光发射器；平动电机固定于横梁的下侧面，成像探头垂直固定于平动电机中的移动块；光发射器通过可调连接件连接至所述移动块，通过调节可调连接件使其发射的光经试样反射后进入成像探头；数据处理装置用于对所述图像获取装置获取的光图像和热图像数据进行处理后获得相关系数和均方差统计系数，并将所述相关系数和均方差统计系数与预设的阈值进行比较，根据比较结果获得工艺质
华中科技大学
2021-04-14