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纳米粒子辨识系统装置及其识别方法
【发 明 人】彭国平；李红阳；郑云枫 【摘要】 纳米粒子辨识系统装置及其识别方法，包括光散射系统和数据处理系统，还包括检测池，所述光散射系统包括至少两组含有顺序平行排列设置的激光源，短焦透镜、光栅、长焦透镜、光栅滤波器和多点散射光接收器，所述的检测池设于长焦透镜和光栅滤波器之间；所述数据处理系统包括光电转换模块、数据处理模块和显示器，数据处理模块计算得到曲线相似度和粒子浓度定量数据，结果显示在显示器上。该方法通过采用激光粒径检测仪对溶液中目标粒子和干扰粒子激光照射，通过计算曲线相似度，实现对溶液中的纳米粒子特征辨识，可以对水溶液中粒径相似粒子进行针对辨识检测。
南京中医药大学
2021-04-13
基于深度学习的图像识别云服务平台
基于深度学习的图像识别云端服务平台，能够 通过云计算框架训练深度学习算法模型，对图像进行目标检测 和识别。平台拟采用云端 API 的形式，为其他客户端的提供简 单易用的图像识别服务，将目标识别应用到互联网及移动应用 场景中，推动移动互联网的进步。 该平台实现如下功能：1.模型训练：平台能够基于用户给 定的不同行业的数据，训练相应的精细化分类模型。2. 图像识 别：平台能够根据预先训练好的识别模型，对用户
合肥工业大学
2021-04-14
一种舵片偏转极性识别方法
一种舵片偏转极性识别方法，本发明属于图像处理方法，解决舵片偏转过程中舵片偏转角度过小，依靠人眼识别可靠性得不到保证，而现有基于机器视觉的识别方法测试过程效率低的问题，用于各种具备舵片的设备测试过程中对于舵片偏转极性的自动识别。本发明的基本思想是通过相机采集静态或动态舵片图像，通过滤波、形态学闭运算和空洞填补等预处理后，提取出舵片区域，计算出舵片区域的质心和面积作为识别特征量，且在此基础上考虑邻帧的影响，有效得识别
华中科技大学
2021-04-14
一种对海目标红外成像识别装置
本发明公开了一种对海目标红外成像识别装置，包括：主处理板和显示板，所述主处理板包括图像收发模块（101）、总线控制模块、数字信号处理器模块、图像数据存储模块、通信接口模块、非均匀性校正片上系统（SoC）、多级滤波专用集成电路（ASIC）、标记专用集成电路（ASIC），完成图像的预处理和目标的识别与跟踪，所述显示板包括图像收发模块（102）、图像实时显示控制模块、显示数据存储模块。本发明有效地保证了动平台上对海目标自动
华中科技大学
2021-04-14
一种 QR 码定位及识别方法
本发明公开了一种 QR 码定位及识别方法。定位方法包括以下 步骤:(1)获取待检测 QR 码的图像并二值化;(2)根据连通域提取、矩 形度分析以及孤岛特征判断，提取 QR 码三个定位图形坐标:采用连 通域分析，提取黑色像素的连通域;获取连通区域的矩形度，保留矩 形度大于筛选阈值的黑色像素连通域作为矩形连通域;保留具有黑色 像素点孤岛特征的矩形连通域，作为定位标，得到定位图形。识别方 法包括以下步骤:S1、按照所述定位方法进行定位;S2、检测
华中科技大学
2021-04-14
一种 QR 码定位及识别方法
本发明公开了一种 QR 码定位及识别方法。定位方法包括以下 步骤：(1)获取待检测 QR 码的图像并二值化；(2)根据连通域提取、矩 形度分析以及孤岛特征判断，提取 QR 码三个定位图形坐标：采用连 通域分析，提取黑色像素的连通域；获取连通区域的矩形度，保留矩 形度大于筛选阈值的黑色像素连通域作为矩形连通域；保留具有黑色 像素点孤岛特征的矩形连通域，作为定位标，得到定位图形。识别方 法包括以下步骤：S1、按照所述定位方法进行定位；S2、检测 QR 码 边缘；S3、计算四条边的交点作为畸变控制点；S4
华中科技大学
2021-04-14
一种用于损伤识别的拉力补偿方法
本发明公开了一种用于损伤识别的拉力补偿方法，包括以下步 骤：(1)将扫频频率及不同的受力状态作为输入层，导纳信息作为输出 层，形成 RBF 神经网络结构；(2)采用包含频率、拉力及导纳的样本数据对该 RBF 神经网络进行训练；(3)将训练完成后的测试数据的频率及 拉力作为输入，通过仿真输出相应的导纳数据，并对实测的导纳数据 与仿真所得的导纳数据进行对比，根据 RMSD 损伤指标衡量补偿的效 果；补偿外部拉力对导纳数据的影响；该方法通过一个无损受拉钢梁 试验和一个有损受拉钢梁得到验证；通过本发明提供的
华中科技大学
2021-04-14
智能虹膜识别芯片及产业创新平台
虹膜识别技术的应用
1.将先进的虹膜识别算法芯片化，在成本，功耗，速度上都较目前的虹膜识别产品有很大的优势。
2. 依托中科大微电子学院和合作的芯片研发公司，创建一个虹膜识别技术的芯片级产业创新平台，将智能虹膜识别芯片广泛应用于各行各业。
中国科学技术大学
2021-04-14
一种芯片连晶缺陷识别方法
本发明公开了一种芯片连晶缺陷识别方法，该发明主要用于在 芯片制造过程中识别含连晶缺陷的不合格芯片；包括三个步骤：步骤 一，对采集到的芯片图片进行模板匹配，定位出芯片的位置，根据芯 片的位置，对图片进行截取；步骤二，对截取获得的图片进行预处理， 增大芯片基体与背景的差别；步骤三、对经过预处理的图片进行分割， 获取 blob 块，对 blob 块进行特征分析：首先以面积为基准判断出是否 含连晶缺陷；对面积正常的 blob 块，获取其 blob 块最小外接矩形的中 心点以及四边中点的位置，以中心点以及四边
华中科技大学
2021-04-14
一种在图像中识别物体的方法
本发明申请要解决的问题是，对环境噪声较大的场合，根据对象的结构进行实时识别。本专利建立一种实时的智能物体检测算法，根据动态区域连通性提取物体的结构特征，通过矩函数映射得到特征进行识别。
电子科技大学
2015-01-14