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OMS材料物理光学属性测量仪
产品详细介绍OMS材料物理光学属性测量仪OMS2材料物理光学属性BRDF测量仪,用于测量光学材料表面BRDF光学属性以及材料体光学属性,测量出的数据经过OMS2数据处理软件的拟合,得出.BRDF格式的文件,这些文件都携带了材料的表面光学属性和体光学属性。这些数据文件可在OMS2支持软件中直接读取,在OMS2支持软件的协助下完成杂散光仿真分析处理。国内外用户有拜尔材料、洛克希德马丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工业上海航空电器有限公司等。设备组成OMS2材料BRDF光学属性高精测量系统由OMS2测量仪、数据处理工作站、OMS4数据处理软件。注:B2DF的解释双向反射分布函数(Bidirectional Reflectiondistribution function, BSDF)是研究物体表面粗糙度之光学性质。由于物体表面上有凹凸不平的微小表面,一束入射光线射到表面而产生反射现象,用BRDF 来表示这种反射(散射)现象。其中双向(Bidirectional)系指入射光与接受散射光的方向,因不同的入射光角度所产生的散射性质亦不相同。BRDF 主要应用在计算机仿真物体表面明亮度,与真实人眼所看物体之明亮度相符;另外可应用在背光模块之光学模拟,例如扩散膜之散射性质。测量波段OMS2测量系统可获得测量、提取材料在可见光以及近红外波段的光学属性,具体测量波段是400nm—670nm测量结果(1)材料表面光学属性BRDFa. 材料BRDF点阵数据在使用OMS2测量材料时,仪器中的光电倍增管(PMT)在2π空间内接受样品反射以及透射的光能量数据,因此测量后会得到离散型的点阵数据。b. 材料BRDF文件数据离散型数据直接被使用于软件仿真并不精确,所以所得的离散型数据必须经过数据处理才可使用,OMS2系统的工作站中带有由OPTIS研发出来的数据处理系统,经过OMS2数据处理软件的数据拟合、处理可得出精确的可直接使用.BRDF格式的文件结果中可以查看光的不同入射角度,以及不同波长时,光在材料表面反射、吸收的参数,并且还可查看反射的光型。(2)OMS2数据处理软件OMS2数据处理软件内含有OPTIS大量材料属性数据库,可对采集到的离散型数据进行处理拟合,生成.BSDF格式的材料面光学属性文件,以及.Material格式的材料体光学属性文件。生成的材料光学属性文件可在OMS2支持软件中使用。
北京津发科技股份有限公司 2021-08-23
VSM振动样品磁强计材料磁性测量仪器
产品概述:      VSM振动样品磁强计可测量磁性材料的基本磁性能(如磁化曲线,磁滞回线,退磁曲线,升温曲线、升/降温曲线、降温曲线、温度随时间的变化等),得到相应的各种磁学参数(如饱和磁化强度,剩余磁化强度,矫顽力,磁能积,居里温度,磁导率(包括初始磁导率)等),可测量粉末、颗粒、片状、块状等磁性材料。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速!  VSM振动样品磁强计材料磁性测量仪器 可原位测量磁性材料从液氮温区至室温或室温至500℃温区的磁性能随温度的变化曲线。 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! VSM振动样品磁强计材料磁性测量仪器 技术指标: 1、测量磁矩范围(磁极间距30mm时):1*10-3emu—300emu(灵敏度:5×10-5emu) 2、相对精度(量程30emu时):优于±1% 3、重复性(量程30emu时):优于±1% 4、稳定性(量程30emu时):连续4小时工作优于1% 5、温度范围:室温到500摄氏度以及室温到液氮温区 6、磁场强度:0—±3.8T之间 您也可以在淘宝网首页搜索“锦正茂科技”,就能看到我们的企业店铺,联系更加方便快速! 磁矩测量单元: 磁矩量程分300emu、150emu、80emu、40emu、30emu、15emu、8emu、4emu、3emu、1.5emu、800memu、400memu、300memu、150memu、80memu、40memu、30memu和15memu(即0.015emu)共18档,灵敏度优于5×10-5emu;当磁矩量程为30emu 时,测量磁矩的相对精度和重复性均优于±1%,预热24小时,连续24小时工作的稳定性优于1%。 磁场量程3.8T—0—-3.8T连续测量,分辩率0.1mT,相对精度优于±1%。 振动源输出频率180Hz,频率稳定度优于10-5,输出功率大于50W。 低温装置: 样品室的温度变化范围:80-500K 可选,分辨率0.1K。 测量系统软件: *可直接设置系统参数,直观显示数据 *原始数据文件后缀为13D,直接存储于计算机之中,方便后续处理,可以使用Excel和Origin直接对数据进行处理; *测量的多种曲线和特性参数即可在微机屏幕上显示,软件可对数据进行任意选取,局部放大,平移,可对曲线进行平滑处理,也可在激光打印机上输出打印;还可由其它通用绘图软件上进行处理。 *可自动测量磁化曲线,磁滞回线,快速MH回线,升温曲线,降温曲线,升降温曲线,控温曲线,设定温度下的磁化曲线、磁滞回线、快速MH回线,及背底曲线;在已知退磁因子和样品密度的情况下,能将VSM的开路样品磁特性曲线自动转化为物质本身(即闭路样品)磁性测量曲线 *软件可同时算出国际单位制和高斯单位制下的曲线参数(饱和磁矩/饱和磁化强度/比饱和磁化强度,剩余磁矩/剩余磁化强度,矫顽力,内禀矫顽力,矩形系数,磁能积极大值,回线面积,居里温度)    
北京锦正茂科技有限公司 2022-06-06
低信噪比混响时间测量系统
演艺厅堂的音质特性为其最根本的功能性属性,在演艺厅堂的建设中期通过音质参 量的评测可以获得更为合理的改进方案,从而获得更好的音质特性;同时厅堂建后使用 阶段对于满场(坐满观众)时音质参量的评测也是重要的工作;而无论建设中期还是在 满场使用阶段评测工作都很难在较低信噪比下进行都是比较困难的。针对于此我们开发 了在较低信噪比(20dB)下依然可以获得精确的音质参量的测量系统。本系统融合了先 进的抗噪、去噪技术,同时具有全频带多通道一次测量,测试工作效率高,测试数据精 度高的特点,同时可以显示各频带的声能衰减曲线,为测试者提供了判断测量数据有效 性的有力依据,使测量工作科学有效地进行。 
同济大学 2021-04-13
TE应变自动测量分析系统
TE应变网格自动测量分析系统是一套自动化应变网格采集分析系统,采用CCD摄象机进行应变网格的自动测量,轻便快捷,利用先进的电脑成象与自动化数字图像识别技术,能自动测量网格应变,迅速生成FLD图形,以及进行各种应变分析,为板材成形性应变分析提供直观可靠的数据与报告,直接指导模具调节及零件生产。 该系统是专门用于完成成形极限图FLD的有效工具,特别是配合我中心研制的通用板材成形性能试验机,在进行刚模涨形试验或者液压涨形试验后,能够迅速准确地测量出材料的成形极限图。 测量系统配置了两种测量镜头,分别针对ø2.5mm、ø5mm的网格基圆进行自动测量,应变测量范围分别为0~5mm、0~10mm,分辨率达到0.01mm、0.02mm,软件具有自动分析、自动测量功能,测量准确度高,并具有测量结果自动语音播报功能,系统能自动生成FLD图,并有n-r、n-t等模拟FLC方式,能对多种材料进行比较。
北京航空航天大学 2021-04-13
真空激光高分辨变形测量系统
该系统基于三点准直原理,采用真空激光技术,实现对大尺度建筑变形的精密测量。它将整个测量光路置于真空管道之中,接收器使用面阵 CCD ,配以变焦镜头和定标系统,可对水平和垂直变形量同时进行高精度测量,相对精度可达 10 - 7 (如对 1000m 长的直线型混泥土坝,测量精度为 0.1mm )。整个系统按工业标准要求设计,实现全封闭,无裸露部件,各个组成部分由主控机控制全自动运行。可在恶劣环境下进行长期稳定的无人值守运行,对微小变形实现高精度监测。
大连理工大学 2021-04-13
微小/显微三维测量系统
利用远心镜头获取微小物体的三维点云数据。可用于工业微小器件尺寸、材料形变测量、三维指纹识别、三维生物特征识别领域。
东南大学 2021-04-13
全光纤太赫兹RCS测量系统
准确测量太赫兹频段目标雷达散射界面(Radar Cross Section,RCS)是开展太赫兹成像和探测等技术研究的基础。利用反射式太赫兹时域光谱系统(THz-TDS)可以实现目标的超宽带RCS参数测量功能。典型基于THz-TDS的RCS测量系统主要由飞秒激光器、太赫兹辐射源、太赫兹探测器、光学延时扫描装置和待测目标转台等组成。
上海理工大学 2023-05-15
高精度测量测试设备与系统
核心技术:高精度基础电量测量-电压、电流、电阻自主可控软硬件设计开发基于统一测发控平台的敏捷设计 技术创新点:温度自补偿技术幅值-频率复合标定策略基于自主学习的低频噪声实时滤除方法 技术特色:测量高精度高,产品稳定性好指标范围宽,完全自主可控隔离性好,具有自主知识产权
北京交通大学 2023-05-08
TRS-BDHD姿态/航向测量系统
TRS-BDHD是基于北斗卫星定位系统开发的一种姿态/航向测量系统。它将2/4个北斗卫星接收单元集成在一起,通过北斗卫星载波相位处理算法实现高精度、高动态的姿态/航向测量。它突破了北斗卫星定位系统的应用局限,可为各动态载体种提供基于北斗的实时航向、俯仰和横滚姿态以及三维位置和速度测量。可广泛应用于海洋、航空和地面。
兰州交通大学 2021-04-14
广域形变及位移微波测量系统
 本项目提出的“高精度广域应变与位移微波监测仪”应用在针对大型建筑、桥梁、堤坝、边坡工程、自然山体等对象在力的作用下所形成的应变或位移进行监测。该仪器设备采用地基干涉微波成像技术,能够对较为广大区域进行微波探测,通过分析回波信号以及相应的处理实现对被探测区域的场景进行的微波成像和差分干涉测量,得出被探测区域的三维微波图像,发现场景中发生形变或位移的区域并给出相应的变化量,实现对探测区域的最高0.1米成像分辨率精度、0.05米的高程精度和0. 1毫米的变化测量精度。利用该仪器可以实现探测目标在三维高密度网格条件下的形变测量,同时可以利用微波散射特性的差异对探测区域的物理属性进行反演。该仪器设备采取非接触式的工作模式、具有远程测量和全天候全天时工作的能力,可以为大型设施提供全面、精细、准确的微小应变与位移的监测数据,也将促进新型测量应用的进步与相关理论的发展。 本项目联合国家安全生产监督管理总局在密云铁矿和紫金矿业等矿山企业进行了试验验证并取得了良好的效果。
上海交通大学 2021-04-13
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