本发明提供一种天线检测设备，用于对 RFID 天线进行检测，包括：开卷装置、收卷装置和依次布置在两者之间的静夹持组件、真空吸附组件、外观检测装置、电阻检测装置和动夹持组件，开卷装置开卷的天线基板通过动夹持组件输送到检测处，动夹持组件松开，静夹持组件将天线基板夹紧，真空吸附组件天线基板吸附在检测支撑面板上，外观检测装置和电阻检测装置分别进行检测，检测完成后，收卷装置将检测完成的天线基板成卷回收。本发明还公开了一种利用上述设备进行 RFID 天线检测的步骤。本发明可以实现对 RFID 天线外形尺寸和包括粘连、毛刺、断连、沙眼等在内的多种缺陷的检测，精度高、效率快，而且适应性强，针对不同种类和大小的 RFID 天线，均可实现检测。

成果简介： 1、主要功能和应用领域： 本设备可满足液晶屏/触摸屏制造行业对导电金球在COG绑定后的在线质量全检需求，即对导电金球的深浅、个数和偏位进行准确高效的自动检测，以满足液晶行业日益上升的金球质检标准和产能要求。金球内核为聚合物材料，外壳为金或镍，直径3~5微米。ACF热压后金球有的被压扁，有的被压开口，并充当LCD和驱动芯片之间的导电通道，如金球压合不好会造成导电不良，使得液晶屏发生批量缺线等故障。 2、特色及先进性： 1）金球深浅判断。导电金球的压合轻重程度没有量化指标，主要依靠人眼目视的感受，需要从图像上提取物理特征参数，以反映金球被压迫从过轻到合适再到过重变化，对应无变形-变形良好-变形过多(压碎)的过程。 2）偏位测量情况多样。当BUMP比金手指尺寸大的时候，完全对准的情况下看不到金手指，和刚好错开一个金手指的情况一样。需保证调机良好情况下的3微米精度，对于偏位较大的情况则需要采用额外的算法来判断。 3）检查标准设置繁多。设计并实现了一个智能分组的工具，在采集了所有视场的图像后，将建标的时候识别出来的BUMP(多为白色)尺寸分组，尺寸相近的在一组，则通过点击智能分组工具，然后就把尺寸、面积和比例相似的分在一起，简化操作。 4）屏幕放置精度和尺寸精度高。系统的检测流程需要根据被测屏幕的放置位置精度和尺寸精度来确定，若屏幕在自动对边后相同特征不同片子产生的位置差异远大于线宽线距，则需要添加自动寻找定位点，然后将其作为位置起点再进行自动检测。 3、技术指标： 金球直径：3微米；分辨率：0.7微米；放大倍数：10；图片大小：4000*100000，4亿像素；采集时间：2秒 ；计算时间：0.8秒 ；ITO引脚：200~500个；单个引脚金球个数：10~50个；整机检测效率：一代机5 s，二代机3.5 s 4、关键问题和实施效果： 目前传统液晶屏和触摸屏生产线上，对于ACF热压后的金球压合质量均采用人工抽检的方式，借助显微镜进行人工检测，8-10片抽检一片。该设备可以实现产品的全检，一台设备相当于8-10个人，对于提高产能提升产品质量具有非常重大的意义。该设备采用线阵相机配合精密运动平台实现0.7微米分辨率的图像采集，其光学采集部分如下图所示。

产品详细介绍紫外老化试验箱   一、紫外老化试验箱使用条件: 1.         环境温度：5℃～＋28℃（24小时内平均温度≤28℃）; 2.         环境湿度：≤85%; 设备放置前后左右各80公分不可放置东西; 二、紫外老化试验箱执行标准:  本产品符合GB/T14522-93、GB/T16422.3-1997、GB/T16585-96等现行紫外线老化试验标准; 三、紫外老化试验箱产品型号与规格: 1、 UV   2、UV-M    3、UV-A 内形尺寸:D×W×H  450×1170×500:mm；　 外形尺寸:D×W×H  580×1280×1350:mm； UV:   无辐照度调节。温控：高精度数显仪表； V-M: 辐照度手动调节。温控：高精度数显仪表； UV-A: 辐照度自动调节。温控：彩色液晶触摸屏； 四、紫外老化试验箱用途： 1.        紫外老化试验箱采用荧光紫外灯为光源，通过模拟自然阳光中的紫外辐射和冷凝，对材料进行加速耐候性试验，以获得材料耐候性的结果。 2.        紫外老化试验箱用于丰非金属材料、有机材料（如：涂料、油漆、橡胶、塑胶及其制品），经在阳光、湿度、温度、凝露等气候条件的变化下检验有关产品及材料老化现象程度。在短时间内得到变色，退色等情况。 五、紫外光试验箱光源: 1.         光源采用8支UV系列额定功率为40W的紫外荧光灯管作发光源,分布在机器的两侧,每侧各4支; 2.         试样表面与紫外灯平面距离为50毫米且相平行; 3.         有UV-B313.UV-A340.光源供用户选择配置;（任选一种） 4.         UV-A340灯管的发光光谱能量主要集中在340nm波长附近; 5.         UV-B313灯管的发光光谱能量主要集中在313nm波长附近; 6.         由于荧光灯光能量输出会随时间而逐步衰减，为了减小因光能量衰减造成试验的影响,所有的8支灯管中每隔1/4的荧光灯寿命时， 7.         由一支新灯管替换一支旧灯管,这样，紫外光源始终由新灯和旧灯组成，从而得到一个输出恒定的光能量; 8.         灯管有效使用寿命（国产在500-700小时左右）（美国进口灯管在1800～2000小时左右）; 六、紫外老化试验箱控制系统： 1.         采用黑色铝板联接温度传感器，采用黑板温度仪表控制加热，温度更稳定； 2.         辐射计探头采用固定式，无须每次装卸； 3.         辐射量采用高精度显示和测量的专用紫外线辐照计； 4.         辐照度不大于50W/㎡； 5.         光照和冷凝可独立控制可以交替循环控制； 6.         光照和冷凝的独立控制时间和交替循环控制的时间可在一千小时内任意设置； 7.         自动检测显示每根紫外灯的亮灯状态； 8.         可实现手动调节辐照度和自动调节辐照度并且样品架可360度旋转； 9.         仪表采用进口LED数显PID温度智能控制仪，控温精度高且稳定性好; 10.      具有漏电、短路、超温、缺水、过电流保护/控制器停电记忆； 七、紫外老化试验箱技术参数: 1.         温度范围：RT+10℃～70℃； 2.         湿度范围：≥95%R.H； 3.         黑板温度：40℃～65℃； 4.         灯管间距离：70mm； 5.         灯管功率：40W/每支； 6.         紫外波长：290nm～400nm； 7.         试验时间：1～9999s、m、h 可调； 8.         支持样板：150×75(mm)，约40块； 9.         辐照度可调：≤0.33-0.77w/m2； 电源要求：AC380（±10%）V/50HZ  三相五线制。

X波段雷达测波系统是在863课题“X波段雷达产品化技术研究”等项目的支持下，由电子科技大学和南京信息工程大学联合研制的一种岸基测量设备，用于测量近岸的海浪参数，可应用于国家海洋基础数据建设、近海工程建设、航行安全等领域。 系统特点： ？ 采用垂直极化天线，测波的灵敏度高 ？ 将雷达数据采集与处理分离，系统性能稳定 探测参数 探测指标 波高测量范围 0.5米-20米 波高测量精度 ±0.5m或相对标准误差±10% 周期相对标准误差 1秒（范围5-20秒），或10% 波向标准误差 ±15度 （范围0-360度） 3、 采用了独创的海浪参数提取算法，测量精度更高

X波段雷达测波系统是在863课题“X波段雷达产品化技术研究”等项目的支持下，由电子科技大学和南京信息工程大学联合研制的一种岸基测量设备，用于测量近岸的海浪参数，可应用于国家海洋基础数据建设、近海工程建设、航行安全等领域。

海岸滩涂及浅海地区海陆地形测量是海洋测绘的难点区域，小型化机载测深激光雷达作为该领域的高端装备，一直被美国、加拿大等国家垄断，进口价格昂贵，且长期对中国禁运。无人机载激光雷达可提高水域、海陆交界和陆地地表的联合探测能力，可同时实现高效、高精度测量水下及陆表目标区域三维地形。

小试阶段/n本发明采用单片机模块、调制信号产生模块、微波传感器接口、差频信号调理模块、显示模块、串行通信接口与单片机模块中装有的测距控制软件共同作用。调制信号的产生方式由一般的方波积分、程控放大和直流加法缓冲输出改为 DAC 直接输出，电路结构得到了简化 ；调制信号幅值的程序也同样得到了简化，测量精度显著提高，实时性和可靠性明显增强。本发明充分发挥传感器的特性，采用变频调制信号的方法实现高精度的测距功能，克服了差频信号信噪比低的难题，消除了系统对高速浮点运算的需求。因此提高了测量精度和可靠性，并且极

楚航科技车规级平台研发生产的77GHz前向长距雷达，探测距离可达220m，具备高度检测功能，抗干扰能力强，雷达能够识别遮挡并做报警提示，产品符合ISO26262 功能安全ASIL B等级，实现ACC（自适应巡航）、AEB（自动紧急制动）、FCW（前方碰撞预警）等功能。

超薄设计扫描式激光雷达采用一体化激光TOF测距原理，光速针对扇形区域进行探测，前端算法判定报警，针对通道占用、间隙探测、周界防护等应用场景，提供稳定可靠的数据支撑。

 一、成果简介 近些年，我国居民对水果的消费不仅要求满足量的需求，还对水果内部品质提出了更高的要求。但是，由于我国还不够重视水果的采后处理，大部分以原始状态上市，不分等级，或者通过个人经 验与破坏性检测水果内部品质，其检测的代表性与效率不能保证，因此不能满足现有的检测要求。近红外光谱区（Near Infrared，简称NIR）在1800年发现后，由于此谱区主要是含氢基团振动