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差示扫描量热仪 DSC-100型
产品详细介绍
产品用途
差示扫描量热法（DSC）作为一种可控程序温度下的热效应的经典热分析方法，在当今各类材料与化学领域的研究开发、工艺优化、质检质控与失效分析等各种场合早已得到了广泛的应用。利用 DSC 方法，我们能够研究无机材料的相转变，高分子材料熔融与结晶过程，药物的多晶型现象，油脂等食品的固/液相比例等。
仪器特点
北京恒久科学仪器厂最新开发了新型差示扫描量热仪 DSC-100，在仪器的结构设计与灵活性方面又有新的突破。基线校正功能使得测试具有更好的重复性，特别适合于比热的精确测量。该仪器有三种不同的冷却方式。半导体冷却系统能够覆盖从 -55℃至 700℃的测量温度范围。液氮冷却系统（LN2）拥有更宽的温度范围，从 -150℃直至 700℃。集成化的电子流量控制系统，确保了在不同的吹扫与保护气氛下的精确的流量控制。
仪器指标
温度范围：-150 ～ 700℃
升降温速率：0.1 ～ 100K/min 之间可任意设定
温度准确度：±0.01℃
功率测量范围：±100μW
最小分辨率：±0.01μW
功率准确度：±0.02μW
智能的可自由选择的基线修正。
气体密闭设计。
两路吹扫气体与一路保护气体，使用集成的质量流量控制系统及相应软件功能进行精确的流量设定与控制。
半导体冷却（可选）功能得到极大改进，现温度范围 700℃ ... -55℃。
快速可控液氮冷却系统（可选），冷却范围700 ... -150℃。
北京恒久科学仪器厂
2021-08-23
三维扫描仪OpticScan-QL-Plus
产品详细介绍OpticScan 通用系列 三维扫描仪 先临三维自主研发的OpticScan 通用系列 三维扫描仪，特别适用于复杂曲面、柔性物体或易磨损的模具、样品、工件的测量和检测。主要运用于：● 物体三维形状信息的获取，如三维测量、三维测绘、三维扫描、三维数模档案、多媒体内容创建；● 产品的设计与研发，如CAD 设计、数字化加工、逆向工程、逆向设计；● 三维检测，如CAV 和CAE分析特性1、精确- 精度检测方法依据德国光学扫描仪测量检验标准VDI/VDE2634制定，单面精度最高可达7μm；- 可生成高密度点云资料，工件表面精细部位清晰表达；- 系统具有对测量产生的噪音点进行修剪、剔除功能，确保测量精度 2、曲面信息轻松获取- 先进非接触拍照式测量技术，轻松获取曲面信息，满足对复杂曲面、柔性物体的测量与检测要求；- 单面扫描时间小于5秒，可在瞬间获得高精度的三维数据，提高测量工作效率3、安全、便捷- 保护易磨损的模具、样品、文物等贵重物品不受损害；- 安全白光技术，不伤害人眼；- 尺寸小，可灵活移动，对大型或重型工件的也能方便的进行测量；4、测量范围自由切换- 四目系列三维扫描仪可自由切换扫描范围，且无须再次标定 5、 经济性- OpticScan 通用系列三维扫描仪适用的领域广泛，无论是工业零配件还是日常消费品，无论是文物还是首饰，都能应付自如；- 品质过硬而价格合理，让客户在投入最少化的前提下实现利益的最大化OpticScan-Q四目系列产品型号 OpticScan-QL-Plus 单面扫描范围 400mm×300mm—200mm×150mm(可调节)单面测量精度 0.04mm-0.015mm 平均采样点距 0.3mm-0.15mm扫描物体尺寸 200mm~1500mm，1500mm以上(配合三维摄影测量系统)扫描方式 白光，非接触式（拍照式） 输出格式 ASC，STL图像分辨率 131万像素（根据客户需求，可升级为200万，300万或500万像素） 单面扫描时间 小于5S 拼接方式 标志点全自动拼接适用领域 (可切换扫描范围，无须再次标定)汽车零部件，铸件等大型模具，大型文物等更多三维扫描仪信息，可见http://www.shining3dscanner.cn/zh-cn/product_opticscan.html
先临三维科技股份有限公司
2021-08-23
功能性载体高分子微球
该技术涉及一项基于聚苯乙烯基的载体高分子微球的生产技术。产品经改性后，可获得表面带-Cl、-NH3等功能性基团的微球。
厦门大学
2021-04-11
高分散氧化物纳米颗粒的制备技术
以机械混合、扩散、化学反应速率、成核速率、长大速率等诸因素为变量，建立“液相化学反应胶粒析出相变过程的数学方程组及边界条件”，提出 “连续有序液相沉淀纳米粉体制备技术”。该技术可以制备粒度在10-200nm高分散的氧化物纳米颗粒 ，包括BaTiO3，Y3Al5O12及一系列稀土氧化物，并拥有独立的知识产权。
1.通过液相反应胶粒析出机理分析，采用此液相沉淀技术在低温800℃条件下制备了四方相钛酸钡纳米粉体。通过反应前液体钡钛比的精确控制，以及洗涤工艺控制，使粉体的钡钛比达到003比1。制备的纳米粉体在40-60nm之间，粒度分布窄、分散性好、烧结活性高。目前此液相沉淀技术已经成功延伸至牙科纳米氧化锆粉体和稀土掺杂钛酸钡基纳米粉体的制备。
2.续有序液相沉淀技术制备Y3Al5O12纳米粉体
3.稀土氧化物纳米粉体的制备
常州大学
2021-05-10
高分子熔体高压可控强剪切密炼机
中试阶段/n项目背景:常规的塑化方法有两辊开炼机、密炼机、单螺杆塑化挤出机、双螺杆塑化挤出机。常规的两辊机塑化是非密闭式结构，工作和操作环境差、物料容易氧化，出料为不易取用的块状。其优点是塑化剪切作用大，故广泛用于橡胶等高粘度材料；常规的密炼机塑化出料仍为不易取用的块状且取料和清料都非常困难，且塑化压力和剪切力非常低；常规的单螺杆塑化混合效果差，且不能使用粉料，塑化质量靠占地大且流程长的大长径比螺杆改善，塑化程度难以控制。其主要优点是出料方便，可连续生产；常规的双螺杆塑化结构复杂、成本高、长径比大，
湖北工业大学
2021-01-12
中国科学技术大学实现单离子超分辨成像
中国科学技术大学郭光灿院士团队在冷原子超分辨成像研究中取得重要进展。该团队李传锋、黄运锋、崔金明等人在离子阱系统中实现了单个离子的超分辨成像。
中国科学技术大学
2021-12-29
“飞秒-纳米时空分辨光学实验系统” 国家重大科研仪器
基于金属纳米粒子的局域表面等离激元因其高局域强度，小局域尺度，高灵敏度等特点，被大量应用在不同领域。但是，几个飞秒的超短模式寿命(dephasing time)大大限制了其应用的广泛性和实用性。该工作设计的多层结构实现了局域表面等离激元和传播表面等离激元的强耦合(图1(a))。动态数值模拟结果也清晰地证明在强耦合下局域表面等离激元模式和传播表面等离激元模式之间的能量交换。近场方面，光电子显微镜对表面等离激元模式进行直接成像，大大突破了原有的远场探测技术的限制。并且结合不同激发光源，实现不同维度的探测。结合波长可调的激光光源，光电子显微镜在频域记录下表面等离激元模式随波长变化的强度演化过程(图1(b))。结合超快泵浦探测技术，光电子显微镜在时域记录下表面等离激元模式随时间变化的演化趋势。该工作更加深入并直观地探测强耦合体系中的能量转换过程，并通过强耦合中失谐量的改变实现模式寿命的操控，相较于未耦合的局域表面等离模式，强耦合的模式寿命由6飞秒(10-15秒)提高到10飞秒。这一研究成果对进一步发展基于表面等离激元的人工光合成、生物传感等应用具有重要的指导价值。图1、（a）光电子显微镜和多层结构示意图，（b）远场和近场探测曲线、不同波长激光激发下光电子显微镜记录的局域表面等离激元模式分布图。 此研究是由北京大学和日本北海道大学共同合作完成，北京大学物理学院博士生杨京寰和重大仪器项目的国际合作者、北海道大学助理教授孙泉为该文章的共同第一作者，北京大学龚旗煌院士和北海道大学Misawa教授为共同通讯作者。除了自然科学基金委的国家重大科研仪器研制项目，该工作还得到了科技部、北京大学人工微结构和介观物理国家重点实验室、极端光学协同创新中心、“2011计划”量子物质科学协同创新中心、日本文部科学省及学术振兴会、北海道大学纳米技术平台等单位的支持。目前国家重大科研仪器研制项目“飞秒-纳米时空分辨光学实验系统”的研制正在有序推进中，已经取得了一批包括此工作在内的阶段性成果。该实验系统的核心仪器是附带低能电子显微功能的光电子显微镜(PEEM), 其激发光的波长覆盖范围从极紫外到近红外(图2)。下一步该实验系统有望在二维材料、光电材料与器件、表面介观物理等研究领域大显身手、发挥积极作用。图2、北京大学研究团队的飞秒纳米时空分辨系统
北京大学
2021-04-11
一种用于超分辨定位成像系统的样品池
本发明公开了一种用于超分辨定位成像系统的样品池，包括底座、压板、盖玻片、载玻片、第一螺栓、第二螺栓、进穿板接头与出穿板接头，载玻片安装于压板上，盖玻片安装于底座上，压板腔体外表面与底座腔体内表面间隙配合，并通过第一螺栓连接压板与底座，第二螺栓安装于压板上，通过调节第一螺栓与第二螺栓实现样品空间厚度的改变，进穿板接头与出穿板接头均安装于压板上，实现样品空间与外界环境的连通，通过向进穿板接头注入新的液态生化试剂，从
华中科技大学
2021-04-14
一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法
本发明公开了一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法。基于硅 基液晶在同样的偏置电压下，对不同波长入射光有不同的相位调制的 特性，对在硅基液晶波长工作范围内的光信号实现分析与监测，并能 在入射光波长未知的条件下，对该波长进行测量，并能随着相位调制 精度的提高，提高波长的分辨精度。本发明元件少，系统结构简单紧 凑，对光路的准直要求不高，无需苛刻光路的耦合与复杂操作就能进 行波长的分辨，并且有着与入射光偏振态无关的特性，在分辨出波长 的同时，还能对入射光束的偏振态进行测量，适用范围更广。
华中科技大学
2021-04-14
一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法
本发明公开了一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法。基于硅 基液晶在同样的偏置电压下，对不同波长入射光有不同的相位调制的 特性，对在硅基液晶波长工作范围内的光信号实现分析与监测，并能 在入射光波长未知的条件下，对该波长进行测量，并能随着相位调制 精度的提高，提高波长的分辨精度。本发明元件少，系统结构简单紧 凑，对光路的准直要求不高，无需苛刻光路的耦合与复杂操作就能进 行波长的分辨，并且有着与入射光偏振态无关的特性，在分辨
华中科技大学
2021-04-14