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动态膜过滤装置
动态膜技术是一种新的膜分离技术,应用于化工分离过程、废水处理工程、给水深度处理等领域,性价比远高于普通的膜设备,但操作技术要求较高。本专利被欧洲专利局数据库收录(CN199
南京工业大学 2021-04-14
动态电阻应变仪
产品详细介绍 TST5915动态信号测试分析系统 产品介绍 1.采用标准便携式进口机箱,全屏蔽机箱结构设计,有效的提高了现场抗干扰能力。 2. 每通道独立16位Σ-△A/D转换器,以及每通道独立的高性能浮点DSP,构成实时数字滤波+模拟滤波的高性能抗混滤波器。 3.采用DDS高精度频率合成技术,保证了所有通道并行同步采集。 4.采用DMA数据传输技术,保证了数据的实时传输、实时显示、实时分析、实时存盘。 5. 系统配置了多种前置信号调理器(ICP、应变、电荷等),实现了多种信号的同时测量。 6.单台计算机最多可控制512个通道进行同步实时采集,多台计算机通过网络连接,可扩展到4096通道。 7.多通道并行同步采集,每通道采样频率最高达到128K。 8.采用进口雷莫接插件,更好的保证了小信号的可靠传输。 9.采用Q-FAN智能温度控制系统,最大程度上减少了温度对测量结果的影响。 10.提供LABVIEW、VC、VB、CVI等开发平台的接口程序,方便用户二次开发。 11.提供多通道转速测量模块,方便用户对旋转机械运行状态进行监控以及故障诊断。 12.功能丰富的控制分析软件,以及模态分析软件,用户可以很方便的对采集数据进行操作和处理。 13.符合GB6587.1-86-11使用条件。 详细技术指标: 1.仪器接口:USB2.0、1394高速数据传输接口 2.扩展方式:并行 3.同步方式:同步时钟发生器 4.连续采样频率:      8通道同步采集,每通道最高采样频率128K;    16 通道同步采集,每通道最高采样频率51.2K;    32 通道同步采集,每通道最高采样频率25.6K;    64 通道同步采集,每通道最高采样频率12.8K;   128通道同步采集,每通道最高采样频率5.12K;   256通道同步采集,每通道最高采样频率2.56K;   512通道同步采集,每通道最高采样频率1.28K。 5.定制采样频率:用户在满足最高采样频率的条件下,可定制任意采样频率。 6.满度值: ±20mV、±50mV、±100mV、±200mV、±500mV、±1V、±2V、±5V、±10V、±20V;   7.线性度: 满度的0.05%; 8.失真度: 不大于0.5%; 9.系统准确度: 小于0.5%(F.S)(预热半小时后测量);  10.系统稳定度: 0.05%/h)(预热半小时后测量); 11.最大分析频宽: DC~50kHz; 12.输入方式:AC、DC、ICP、GND; 13.滤波器:      a.模拟滤波器:截止频率为 10、30、100 、300、1k、3k、10k 、PASS(Hz)八档分档切换;      b.DSP数字滤波器:截止频率为采样速率的1/2.56倍;      c.平坦度(分析频率范围内):小于0.05dB;       d.阻带衰减:-150dB/oct; 14.白噪声: 不大于5μVrms; 15.共模抑制: 大于100dB; 16.共模电压(DC或AC峰值): 小于±10V、DC~60Hz ; 17. 时间漂移: 小于3μV/小时; 18. 温度漂移: 小于1μV/℃; 19.A/D分辨率: 16位; 20.输入阻抗: 10MΩ或40PF; 21.触发方式:手动触发、外触发、信号触发;  22. 电源: AC220V(±10%)50HZ(±1 HZ)或DC  12V 23.使用环境: 适用于GB6587.1-86-Ⅱ组条件; 24.外形尺寸:   317mm(长)×236mm(宽)×88mm(高)(八通道);       317mm(长)×236mm(宽)×133mm(高)(十六通道);       317mm(长)×487m(宽)×133mm(高)(三十二通道)。  
江苏泰斯特电子设备制造有限公司 2021-08-23
一种飞机机翼变形测量装置、安装方法及测试方法
本发明涉及飞机机翼变形测量领域,具体涉及一种飞机机翼变形测量装置、安装方法及测试方法,包括计算机、散斑成像系统与光纤陀螺惯导系统;散斑成像系统包括图像采集装置与散斑图案,散斑图案布置于机翼上,图像采集装置设于机尾,用于采集散斑图案的变形信息,并将变形信息传输至计算机;光纤陀螺惯导系统包括光纤陀螺仪,光纤陀螺仪有若干个,若干个光纤陀螺仪于机身与机翼对称分布,光纤陀螺仪通信连接于计算机,用于向计算机传输所测得数据信息;计算机集合散斑图案的变形信息与光纤陀螺仪测得数据信息实现确定机翼变形量。其能在动态环境下,实时高精度的测量机翼变形。
东南大学 2021-04-11
二维Bi2O2Se超快高敏红外芯片材料
具有超高电子迁移率、合适带隙、环境稳定和可批量制备特点的全新二维半导体芯片材料(硒氧化铋,Bi 2 O 2 Se),在场效应晶体管器件、量子输运和可见光探测方面展现出优异性能。由Bi 2 O 2 Se制备成的原型光电探测器件具有很宽的光谱响应(从可见光到1700 nm短波红外区),并同时具有很高的灵敏度(在近红外二区1200nm处灵敏度高达~65A/W)。 而利用飞秒激光器组建的超快光电流动态扫描显示Bi 2 O 2 Se光电探测器具有约1皮秒(10 -12 秒)的本征超快光电流响应时间。化合物由交替堆叠的Bi 2 O 2 和Se层组成,晶体中氧的存在,使其在空气中具有极佳的稳定性,完全可暴露于空气中存放数月且保持稳定。
北京大学 2021-04-11
一种平面度误差测量装置及其二维扫描工作台
本发明公开了一种平面度误差测量装置其包括激光器、柔性铰 链、静光栅、动光栅、测量头、压缩弹簧、底板以及光电探测器,测 量头固定在柔性铰链的第一端部处并伸出,动光栅设置在柔性铰链的 第一端部内,压缩弹簧一端与底板连接且另一端与柔性铰链的第一端部连接,压缩弹簧位于测量头的下方,柔性铰链的第二端部与底板固 定,静光栅固定在底板上,其与动光栅平行相对且相邻设置,激光器 也设置在底板上,光电探测器设置在静光栅出光端。本发明还提供一 种二维扫描工作台。
华中科技大学 2021-04-14
耦合熔融结晶制备高纯联苯的方法
本发明涉及一种从煤焦油回收洗油减压精馏后的富集联苯馏分制备高纯度联苯的方法。包括以下步骤:1)将液态联苯馏分加入悬浮熔融结晶器内,按照(0.5~6)℃/h降温,终温为(20-40)℃。2)过滤:液相进入减压精馏塔进行分离,固相作为3)步骤原料。3)将2)步骤得到的固相熔化后,加入层式熔融结晶器内,按照(1-4)℃/h降温,降温至(60-64)℃,恒温0.5h,母液返回步骤1)作为原料;对晶体进行发汗,升温速率为(2-6)℃/h,升温至(68-69)℃,恒温0.5h,排出母液返回步骤3)作原料;对晶体全部熔化后作为产品。本发明的方法具有产品纯度高、成本低、收率高、环境友好等优点。
天津科技大学 2021-04-13
高性能动力电池高镍系三元正极材料
一、项目简介动力锂离子电池在社会生产和生活中具有广泛的应用,比如新能源汽车。发展高能量动力锂离子电池关键之一就是发展具备高储能能力的正极电极材料。高镍系镍钴锰酸锂 LiNixCoyMnzO2(NCM)具有高的储能容量(>200 mAh/g)、高的工作电压和理论能量密度(800 Wh/kg),能够满足单体电池能量密度的要求,是当前重点研究对象。本项目成功发展高镍系三元正极材料,包括两个类别即 NCM-1 和 NCM-2。NCM-1 展示了优异的电化学性能,在 2.7-4.5 V 工作电压区间和 0.1C 倍率下放电比容量大约 210 mAh/g;当倍率增加到 5C 时,放电比容量依然可以达到 150mAh/g;在 0.5 C 倍率下,经过 100 次充放电循环后,其容量保持率在 95%以上。NCM-2 放点比容量较低,但是稳定性能更优。二、产品性能优势该系列高镍系三元正极材料具有高的克比容量、优异的循环稳定性和倍率性能。同时,该系列产品采用目前工业化制备方法,便于推广。三、市场前景及应用2018 年中国锂电正极材料市场总产值达 540 亿元,其中三元正极材料占比最大,达 258 亿,总占
中山大学 2021-04-10
一种测量 Seebeck 系数的装置及其方法
本发明公开了一种测量 Seebeck 系数的装置及其方法,其中该 装置包括主/副加热器、第一绝缘导热体、第二绝缘导热体、第一主/ 副探针、第二主/副探针、第一主/副热电偶、第二主/副热电偶,其中, 第一绝缘导热体和第二绝缘导热体均用于放置待测量样品;第一主/副 探针和第二主/副探针用于测量待测量样品的电位;第一主/副热电偶和 第二主/副热电偶用于测量待测量样品的温度。本发明中进行测量的样 品其形貌可灵活多样,并且该装
华中科技大学 2021-04-14
一种测量刀尖点振动位移的方法
本发明公开了一种测量刀尖点振动位移的方法,属于切削加工领域,包括:S1 获得刀尖点和机床机床主轴上多个位置点的振动加速度频响函数曲线;S2 计算获得所述刀尖点分别与所述多个位置点之间的多个振动位移传导函数;S3 测量获得刀尖点和多个位置点在持续振动时候的实际振动位移,根据多个振动位移传导函数计算获得刀尖点的多个振动位移计算值,挑选出与所述刀尖点实际振动位移最接近的振动位移最佳计算值,并选择获得最佳振动位移传导函数以及机床主轴上最佳位置点;S4 测量实际加工过程中最佳位置点的振动位移,计算获得实际加工
华中科技大学 2021-04-14
一种测量不确定度的分析方法
本发明公开了一种测量不确定度的分析方法。利用参考测量系测量各标准样件,获取测量结果 X,利用某一待分析的测量系统对标准样件进行测量,获取测量结果 Y;分别计算测量结果 X 和 Y 的方差V(X) 和 V(Y) , 并 定 义 α = V(X)/V(Y) ; 假 设 <imgfile="DDA00002582404000011.GIF" wi="39" he="46" /> 和 <imgfile="DDA00002582404000012.GIF" wi="29" he="46" /
华中科技大学 2021-04-14
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