已有样品/n基于HZO铁电FinFET的混合存储器件。该器件在电荷俘获模式下,表现出高耐 久性(>1012),高操作速度(<20ns),良好的数据保持特性(104@85oC),与DRAM 的性能相近,为在SOC芯片及CPU芯片中集成嵌入式DRAM提供了可能。当器件工作在 电筹翻转模式下的时候,器件表现出非常好的数据保持特性(>10年)以及对读取 信号串扰的免疫能力,使该器件同时具有优越的不挥发存储特性。