全功能可配置NAND Flash芯片测试设备

2021-01-12 00:00:00

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关键词： NAND Flash芯片

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所属领域:

先进制造与自动化

项目成果/简介:

已有样品/n该成果研发了一种全功能、可配置的NAND Flash芯片测试设备，专为测试开发，采用完全自主知识产权的NAND Flash控制器。支持基本读写命令和高级命令，可根据NAND Flash Datasheet自定义测试命令，并且支持覆盖写、编程干扰、保留时间、Read Retry等特殊测试。同时支持3D Nand Flash，支持SLC，MLC，TLC，支持同步和异步Flash，支持TSOP48，BGA63，BGA100，BGA132，BGA152封装产品支持Micron、Samsung、T

项目阶段:

小批量或小范围应用

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