本发明公开了一种双重LAMP检测方法,该方法可同时检测副溶血弧菌和创伤弧菌。属于分子生物学技术领域。所述LAMP检测体系中含有检测副溶血弧菌基因OmpA和创伤弧菌metalloprotease基因的引物组,该引物组分别包含OmpA基因和etalloprotease基因的一对外引物F3、B3和一对内引物FIP、BIP;内引物BIP上分别含有PstI和BamHI酶切位点。该发明方法灵敏度高,特异型好,操作简单,结果观察直观明了,检测速度快。