一种基于叉指电极的高分子层内剪切取向测量方法

2021-04-14 00:00:00

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关键词：叉指电极

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所属领域:

电子信息

项目成果/简介:

本发明属于高分子取向测量的技术领域，具体涉及一种基于叉

指电极的高分子层内剪切取向测量方法，包括如下步骤：S1 将一对叉

指电极探头紧贴于待测材料表面；S2 设置叉指电极的探测深度并测试

待测材料在不同深度位置上两个方向的电容信号大小 <img

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项目阶段:

未应用

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