本实用新型公开了一种倒装 LED 芯片测试装置,该装置包括:工作台模块、运输传输组件、收光测试组件、探针测试平台以及精密对准系统,其中,在工作中,运输传输组件可以运输待测试倒装 LED芯片到合适的工作区域,使待测试倒装 LED 芯片对准收光测试组件的收光口处,调整位姿之后,启动探针测试平台,使探针与待测试的芯片接触通电,使芯片发亮,从而收光测试组件可以对其进行检测。按照本实用新型的机械结构,能够成功地解决倒装 LED 芯片电机和发光面不同侧的问题,并且采用了精密图像运动控制技术,实现了倒装 LED芯
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