|
华中科技大学
华中科技大学 教育部
  • 74 高校采购信息
  • 3406 科技成果项目
  • 0 创新创业项目
  • 0 高校项目需求

一种 RFID 天线毛刺和污点缺陷的视觉检测系统及方法

2021-04-14 00:00:00
云上高博会 https://heec.cahe.edu.cn
关键词: RFID 天线毛刺
点击收藏
所属领域:
其它领域
项目成果/简介:

本发明公开了一种用于对 RFID 天线毛刺和污点缺陷执行视觉检测的方法,包括:对摄像装置执行标定之后,通过其与条形或背光光源的配合,对待检测的各个 RFID 天线拍摄图像;采集所拍摄的天线图像并将其与天线模板图像相匹配以获得预对齐信息;根据天线模板图像上的 ROI 区域并结合预对齐信息,从天线图像中扣取对应的毛刺和污点检测区域;对所抠取检测区域和 ROI 区域分别执行二值化处理,然后执行图像相减处理;对相减处理后的残余图像执行 blob 分析,由此判定毛刺和污点缺陷结果。本发明还公开了相应的视觉检测

项目阶段:
未应用
会员登录可查看 合作方式、专利情况及联系方式

扫码关注,查看更多科技成果

取消