本发明公开了一种倒装 LED 芯片在线检测方法,该方法包括: 在工作中,运输传送系统可以运输盘片工作台到合适的工作区域,调 整位姿之后,启动探测对准系统对探针工作台进行控制,使探针与待 测试的芯片接触通电,使芯片发亮,从而收光测试组件可以对其进行 检测。按照本发明的在线检测方法,能够成功地解决倒装 LED 芯片电 机和发光面不同侧的问题,并且采用了精密图像运动控制技术,实现 了倒装 LED 芯片的高速精密测试,加快了芯片的检测效率。按照本发