一种基于缺陷区预判和水平集的 TFT-LCD Mura 缺陷检测方法

其它领域

本发明公开了一种基于缺陷区域预判和水平集的 TFT-LCD-Mura 缺陷检测方法。该方法提出了一种缺陷区域预判法先找到缺陷区域， 然后将缺陷区域的像素剔除，用余下的像素拟合得到背景图像;用原 图像减去背景图像来消除背景不均匀性对缺陷分割的影响，求差后得 到残差图像，然后用一种基于阈值的水平集方法对残差图像进行分割 来检测得到缺陷。该方法可以获得精度较高的背景图像，对于光照影 响有较好的鲁棒性，能够获得准确的分割结果以及较低的误检率。

产业化应用