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一种基于块的子图构建及分布式图处理方法
本发明公开了一种基于块的子图构建及分布式图处理方法，其子图构建方法，包括图分割、对子图中的顶点重新贴标签、将区间与数据片关联、分块和构建子图的步骤；采用启发式的、轻量级的 SGP方法进行图分割，采用用户定义的启发式函数把顶点按顺序指派到 P个子图，具有性能高，边的切割率较低的特点，并且可以兼顾子图工作负载平衡问题；其分布式图处理系统，块分割之后，子图之间以整个内存块为单位进行通信；与现有技术的细粒度通讯方式相比，本发
华中科技大学
2021-04-14
一种基于磁悬浮轴承电主轴的铣削颤振主动控制方法
本发明公开了一种基于磁悬浮轴承电主轴的铣削颤振主动控制方法，包括下述步骤：采集电主轴发生铣削颤振时的电流位移信号；获得由电主轴位移和速度构成的状态向量 Q(t)；根据电主轴位移[F<sub>x</sub> F<sub>y</sub>]<sup>T</sup>和三角函数列向量<imgfile="DDA0000640503910000011.GIF" wi="90" he="74" />获得谐波位移<img fil
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2021-04-14
一种刀具跳动量及刀刃初始角的测量方法及装置
本发明公开了一种刀具跳动量及刀刃初始角的测量方法及装置，可以同步完成主轴跳动量及刀刃初始角的测量。本专利提出的装置通过两个激光位移传感器同时采集刀柄跳动量及刀齿跳动量。前者数据用于计算刀具跳动量，后者数据与前者数据共同用于确定刀刃初始角。测量数据通过串口通信，交由上位机处理。刀具跳动量的计算通过刀柄处的激光位移传感器采集的数据，进行波峰波谷求差直接获得；刀刃初始角通过对刀柄、刀刃处激光位移传感器采集的两组数据进行波峰相位求差获得。
华中科技大学
2021-04-14
一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度的方法
本发明公开了一种基于光谱分辨率校正提高光信噪比测量精度 的方法，通过测量一定带宽内宽光谱信号的实际功率，以及采用光谱 分析仪测量该宽光谱信号在该带宽内的采样点的功率之和，获取光谱 分析仪的校正分辨率；并用校正分辨率代替光谱分析仪的设置分辨率， 获取光信噪比，提高其测量精度；本发明提供的这种基于光谱分辨率 校正提高光信噪比测量精度的方法能有效地解决光谱分析仪的设置分 辨率与实际分辨率不同导致光信噪比测量误差较大的问题；本发明提 供的方法适用于所有光谱分析仪分辨率的校正，也适用于所有基于光 谱分析的光信
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2021-04-14
一种 RAID 双控制器利用磁盘进行写缓存镜像的方法
本发明公开了一种 RAID 双控制器利用磁盘进行写缓存镜像的方法，在磁盘中为控制器分配保留区；将控制器的镜像写区的脏数据备份到保留区；当控制器收读请求时，在缓存读取数据；当控制器收到写入磁盘的通知时，若数据块在 Cache 中，则将数据块转为干净；若数据块在保留区中，则将数据块在保留区释放；当控制器 Cache 空间不足需要获取空间时，按照干净区、写区、镜像写区的顺序倒盘；当控制器收到将脏数据写回到磁盘的通知时，若数
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2021-04-14
一种电容式电压互感器的试验方法
本发明公开了一种电容式电压互感器的试验方法。运用 CVT 的 结构及波传递特点，通过 CVT 电容单元与电磁单元连接的中间节点进 行加压测试，记录中间节点电压、CVT 输出电压及注入节点电流，计 算获取 CVT 的接近实际工况的传递特性；有效解决了传统试验方法中 特殊情况下因所需电压等级较高或电源容量较大等原因造成的无法试 验的问题，在不影响其传递特性并精确模拟 CVT 电磁单元额定工况的 情况下，准确获取 CVT 的整体传递特性，显著降低了在对 CVT 进行 高压测试时的电压等级及电源容量要求。
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2021-04-14
一种基于应用性能损失分析的数据中心功率配给方法
本发明公开了一种基于应用性能损失分析的数据中心功率配给 方法，数据中心管理员通过厂商或实验室实测获得服务器机型的 CPU 使用率和功率对应关系的配置信息，服务器中的监控模块提取 CPU 使 用率数据并上报给中心数据库，数据分析模块抽取中心数据库中的 CPU 使用率数据，并比照服务器配置信息，分析计算服务器在任意功 率配给下的应用性能损失值，计算完成后，数据分析模块生成功率配 给调整指导单，用以指导数据中心管理员制定服
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2021-04-14
一种改进的基于支持向量机的纳米结构特征尺寸提取方法
本发明公开了一种改进的基于支持向量机的半导体纳米结构特征尺寸提取方法，步骤为：确定每一个待提取参数的取值范围，生成子光谱数据库；利用训练光谱和支持向量机训练网络进行支持向量机训练；对每一个待提取参数利用训练光谱重复训练多个支持向量机，每一个支持向量机的训练终止条件均不相同；利用多个支持向量机，对测量光谱进行映射；找出所有支持向量机映射结果中出现次数最高的一个，视为最有可能出现的取值区间；建立子光谱数据库，找出其中与测量光谱最为相似的仿真光谱，即认为是待测结构的参数值。本发明可以实现特征线宽、高度、侧
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2021-04-14
一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法
本发明公开了一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法，方法是将起偏臂产生的调制光线投射到待测样件表面，检偏臂将待测样件反射(或透射)的光线解调并接收，通过对测量光谱进行谐波分析，计算获得待测样件的全穆勒矩阵信息，并通过非线性回归，库匹配等算法拟合提取待测样件的光学常数，特征形貌尺寸等信息。椭偏仪包括起偏臂(包括光源，透镜组，起偏器和伺服电机驱动的补偿器)，待测样件和检偏臂(包括伺服电机驱动的补偿器，检偏器，透镜组和光谱仪)。本发明可实现各种信息光电子功能材料和器件，以及纳米制造中各种纳米结构的在线
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2021-04-14
一种用于捕获循环肿瘤细胞的微流道结构及其制备方法
本发明公开了一种用于捕获循环肿瘤细胞的微流道结构及其制造方法，该方法包括：（1）在单晶硅片表面匀胶、光刻得到光刻胶掩膜；（2）基于光刻胶掩膜，使用感应耦合等离子体反应刻蚀技术 ICP在单晶硅片上刻蚀出微米级别的凹槽及槽内均匀分布的硅微米柱阵列；（3）在微米柱表面制备纳米线阵列；（4）对凹槽进行封装。按照本发明，可以获得一种用于循环肿瘤细胞检测的微纳复合微流道结构，这种检测结构具有灵敏度高、效率高等特点。
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2021-04-14