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一种柔性膜收卷质量视觉检测方法
本发明属于柔性膜收卷工艺相关领域，并公开了一种柔性膜收 卷质量视觉检测方法，包括:针对收卷装置来布置相应的视觉检测装 置及检测驱动装置;在收卷过程中对料卷端面执行成像检测，并获取 不同焦距下的端面图像，直至收卷完毕;在收卷完成时构建适当算法 求得料卷端面的特征点深度方差，并利用该深度方差来作为量化指标 评价成卷质量。本发明还公开了相应的实时纠偏处理方式。通过本发 明，不仅实现了柔性膜收卷的高精度质量检测，还提出了一种柔性膜 成卷效果量化评价指标，并适用于各类成卷设备的应用场合。
华中科技大学
2021-04-14
一种多尺度城市扩张关联规则提取方法
本发明公开了一种多尺度城市扩张关联规则提取方法，首先依据城市发展的区域特征设计挖掘变量， 并通过地理信息系统空间分析方法，获取变量空间数据。以多级别规则格网的采样方式对挖掘变量进行 空间统计，并对挖掘变量连续值进行离散化处理，形成事务数据库。然后利用已有关联规则生成算法分 别在各级尺度格网挖掘关联规则。对各级尺度上的挖掘结果与对应格网单元进行空间匹配之后，通过本 方法提出的空间尺度匹配系数，确定最合适的格网尺度进行规则分析。本发明解决了传统关联
武汉大学
2021-04-14
一种自适应复合热力融冰配合方法
本发明公开了一种自适应复合热力融冰配合方法，采用负荷转移融冰法、直流电流融冰法、吸收辐 射型涂料融冰法三种方法自适应配合从而达到最优融冰效果；包括以下步骤：步骤 1：确定融冰配合方 案的初始配置参数；步骤 2：根据触发条件和上述配置参数进行自适应融冰方法的分配设置。本发明的 自适应的覆冰配合方法，通过动态调整融冰需求判决标准提高了控制?的范围。能够有效利用各种融冰 方法的融冰效果，减少浪费，抑制融冰手段直接的均比。
武汉大学
2021-04-14
一种月球探测器精密定轨方法
本发明公开了一种月球探测器精密定轨方法，将观测模型和动力学模型两种模型有机结合，从而将 动力学模型参数引入到结合模型中。其次通过对结合模型中所涉及的不同参考系进行统一，将参考系的 连接参数引入到结合模型中。从而建立一种同时改进结合模型中所涉及的参考系连接参数、探测器初始 状态参数、探测器飞行段动力学定轨的摄动模型参数的新模型，用此模型和观测数据可以改进这些参数 的先验精度，提高月球探测器的定轨精度。
武汉大学
2021-04-14
一种注塑机料筒温度控制方法
本发明公开了一种注塑机料筒温度控制方法，其包括如下步骤： S1 计算获得当前采样周期 k 实测温度与目标温度 T 之间的温度偏差的 模糊量 E，以及当前采样周期实测温度与上一采样周期实测温度间的 温度偏差变化率的模糊量 EC；S2 对当前采样周期进行 PID 模糊推理 运算，在运算中对当前采样周期的模糊规则进行修正；S3 计算获得当 前采样周期的 PID 控制量，按照当前采样周期的控制量进行当前加热 控制；S4 在下
华中科技大学
2021-04-14
一种光标定位、光标控制方法及装置
本发明提供了一种光标定位、光标控制方法及装置。该方法包括：S1：将显示器等分为预设数量的子区域，各个子区域以不同的频率进行闪烁；S2：接收脑电采集处理设备发送的脑电信号，所述脑电信号为所述脑电采集处理设备对用户注视所述显示器时的脑电信号进行采集后获得的；S3：对所述脑电信号进行处理分析，根据处理分析结果从所述各个子区域中确定第一子区域为所述用户的注视
中国农业大学
2021-04-14
电磁脉冲助推式渐进拉深成形方法及装置
本发明提供了一种电磁脉冲助推式渐进拉深成形方法，包括将 待成形板料置于凹模与凸模之间；实施预成形，使位于凸模底部的待 成形板料被压入凹模内；在待成形板料位于凸模底部的部分施加电磁 力，向下推送待成形板料；同时在待成形板料的周边均施加电磁力， 向凹模的中心推送待成形板料，使待成形板料流入凹模内；在凸模上 施加下压力，使凸模下行，使待成形板料位于凸模下部的部分被向下 拉深；反复执行冲压拉深与电磁脉冲拉深，直至完成待成形板
华中科技大学
2021-04-14
一种工业蓝牙网络系统及组网方法
本发明公开了一种工业蓝牙网络系统及组网方法，其中一个蓝牙网络系统包括一个主站和多个从站，每个从站拥有一个网络密钥装置，用于存储加密的蓝牙安全组网过滤参数。组网前，蓝牙主站根据微微网 ID 设置搜索过滤参数，确保只有符合要求的从站才能被搜索到；蓝牙从站将微微网 ID 设置为自身的设备类型，并根据主站的蓝牙地址设置连接过滤参数，确保能被自己隶属的主站搜索到并只允许该主站与自己建立连接。组网中，蓝牙主从站根据设置的组网过滤
华中科技大学
2021-04-14
一种气动热辐射图像自动校正方法
本发明公开了一种气动热辐射图像自动校正方法，包括：利用基于加权平方最小的图像平滑算法滤除原始气动热辐射图像 Z 中的噪声和细节；将灰度偏移场 B 用 K 阶二维多项式表示；利用最小二乘法估 计 灰 度 偏 移 场 ， 估 计 的 灰 度 偏 移 场 <imgfile=""DDA0000795251010000011.GIF"" wi=""46"" he=""67"" />为如下最 小 化 问 题 的 解 ： <i
华中科技大学
2021-04-14
一种芯片位置和倾角检测装置及方法
本发明公开了一种芯片位置和倾角检测装置，包括光源组件、光路传输组件、摄像组件以及自准直仪，其中光源组件由分别对应于芯片和基板的第一、第二光源构成；光路传输组件由第一、第二和第三半透半反棱镜以及第一、第二反射镜共同构成，由此在同一光路系统中实现对芯片和基板位置的检测；摄像组件由具备不同视野的第一和第二摄像单元构成，其中第一摄像单元用于采集芯片或基板的大视野图像，根据 MARK 点实现初步定位，第二摄像单元用于采集其具体位置图像；自准直仪用于获取代表芯片水平倾角信息的法线倾斜量。本发明还公开了相应的检测
华中科技大学
2021-04-14