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基于电控液晶双模微透镜的控光芯片
本发明公开了一种基于电控液晶双模微透镜的控光芯片。该芯片包括面阵电控液晶双模微透镜;其包括液晶材料层,依次设置在液晶材料层上表面的第一液晶初始取向层、第一电极层、电绝缘层、第二电极层、第一基片和第一增透膜,以及依次设置在液晶材料层下表面的第二液晶初始取向层、公共电极层、第二基片和第二增透膜;第一电极层由其上布有 m×n 元阵列分布的圆孔的一层匀质石墨烯膜构成,公共电极层和第二电极层分别由一层与第一电极层同质的匀质石
华中科技大学 2021-04-14
一种液晶基红外波束偏振控制芯片
本发明公开了一种液晶基红外波束偏振控制芯片,包括芯片壳体(4)以及位于该芯片壳体(4)内的阵列化液晶偏振控制结构(3);芯片壳体(4)上设置有第一驱控信号输入端口(1),第二驱控信号输入端口(2),第三驱控信号输入端口(5),第四驱控信号输入端口(6)。红外光波进入芯片的阵列化液晶偏振控制结构后,按照液晶偏振控制结构的阵列规模和排布情况被离散化为子波束阵。子波束与受控电场激励下的液晶分子相互作用,被执行水平、垂直、4
华中科技大学 2021-04-14
一种芯片连晶缺陷识别方法
本发明公开了一种芯片连晶缺陷识别方法,该发明主要用于在 芯片制造过程中识别含连晶缺陷的不合格芯片;包括三个步骤:步骤 一,对采集到的芯片图片进行模板匹配,定位出芯片的位置,根据芯 片的位置,对图片进行截取;步骤二,对截取获得的图片进行预处理, 增大芯片基体与背景的差别;步骤三、对经过预处理的图片进行分割, 获取 blob 块,对 blob 块进行特征分析:首先以面积为基准判断出是否 含连晶缺陷;对面积正常的 blob 块,获取其 blob 块最小外接矩形的中 心点以及四边中点的位置,以中心点以及四边
华中科技大学 2021-04-14
一种倒装 LED 芯片在线检测方法
本发明公开了一种倒装LED芯片在线检测方法,该方法所涉及的检测装置包括盘片装载台、运输传输系统、收光测试组件、探针工作台以及探测对准系统,其中,该在线检测方法为:在工作中,运输传送系统可以运输盘片工作台到合适的工作区域,调整位姿之后,启动探测对准系统对探针工作台进行控制,使探针与待测试的芯片接触通电,使芯片发亮,从而收光测试组件可以对其进行检测。按照本发明的机械结构,能够成功地解决倒装LED芯片电机和发光面不同侧的问题,并且采用了精密图像运动控制技术,实现了倒装LED芯片的高速精密测试,加快了芯片的检测效率。
华中科技大学 2021-04-14
一种基于模板匹配的芯片定位方法
本发明公开了一种基于模板匹配的芯片定位方法,具体包括以下步骤:步骤一,制作模板;步骤二,对待定位图片进行预处理,增大背景与芯片基体的对比度;步骤三,对预处理后的图片进行图像分割,得到blob块,利用blob块的面积和blob块对应的最小外接矩形的边长信息排除存在连晶、缺损缺陷的芯片;获取剩下的blob块的最小外接矩形的中心位置坐标,以及短边与水平方向的夹角;步骤四,根据步骤三得出的中心位置坐标和夹角,在待定位图片上采用模板匹配芯片,定位出芯片的位置和角度。本方法主要适用于芯片制造过程中对芯片的定位,采用先筛选再匹配的方法能快速准确定位出合格芯片的位置,排除掉带有连晶、缺损缺陷的芯片。
华中科技大学 2021-04-14
一种倒装LED芯片在线检测装置
本实用新型公开了一种倒装LED芯片在线检测装置,包括底座,所述底座的上端转动连接有支撑块,所述底座的正上方设有支撑台,所述支撑块的上端与支撑台的下端转动连接,所述支撑台的上端分别固定连接有第一安装块和第二安装块,所述第一安装块和第二安装块之间设有LED芯片本体,所述LED芯片本体的一侧设有支撑杆,所述支撑杆远离LED芯片本体的一端贯穿第一安装块,所述支撑杆与第一安装块之间为转动连接,所述第一安装块的上端插设有第二螺杆,所述第二螺杆的下端贯穿第一安装块并与支撑杆相抵,所述第二螺杆与第一安装块之间为螺纹连接。本实用新型通过调节机构的设置,实现对LED芯片翻转、旋转,提高使用时的便捷性与检测时的多样化。
华中科技大学 2021-04-14
基于釜底压力测量的多相搅拌釜搅拌器气泛转速测量装置
本实用新型公开了一种基于釜底压力测量的多相搅拌釜搅拌器气泛转速测量装置。包括釜体以及置于釜体内的挡板、搅拌器和气体分布器,釜体内壁设有挡板,釜体内的搅拌器经转速测量仪和电机的输出轴连接,电机与控制柜连接;釜体底部安装有压力变送器,搅拌器正下方的釜体内设有气体分布器,空气压缩机依次经稳压阀、转子流量计和开关阀后与气体分布器连接,压力变送器和数字显示仪表连接。本实用新型装置使得测量条件降低低,不受外界因素干扰,能适应各种恶劣的测量环境,测量误差小,具有较好的适应性。
浙江大学 2021-04-13
GMU540 IMU惯性测量单元 飞机吊舱姿态调整 倾斜模块 惯导模块 姿态动态监测
技术亮点 ❖ 测量载体的三轴角速率、三轴加速度以及姿态角; ❖ 冲击:100g@11ms、三轴向(半正弦波); ❖ 振动:10~2000Hz,10g; ❖ 供电电压:DC5.0V±0.5V; ❖ 工作温度:-40~85℃。 产品介绍 GMU540惯性导航单元由三轴陀螺仪、三轴加速度计、温度传感器及高精度信号处理电路构成,可实时测量载体的三轴角速度、三轴线性加速度及姿态角(横滚、俯仰、航向),并通过RS422/RS485接口按标准通信协议输出经过全温域补偿(含温度漂移校正、安装偏差校准及非线性误差修正)的高精度惯性数据。 该产品采用差分陀螺架构,有效抑制线性加速度干扰与机械振动,并集成宽温域补偿算法,确保在工业级严苛环境下仍具备卓越的稳定性和可靠性 应用范围 本产品广泛应用于航空航天测控、精准农业自动化、智能交通、工业自动化、系统控制等领域,为各领域提供专业的导航与测控解决方案;核心应用场景如下: ❖ 飞机吊舱                ❖ 工业机器人精确控制               ❖ 医疗机械设备测控   性能参数 GMU540 条件 参数 测量范围 - 横滚±180°,俯仰±90°,方位±180°   测量轴   - X 轴 / Y轴 / Z轴 横滚俯仰分辨率1) - 0.01° 横滚俯仰静态精度2) @25℃ ±0.05° 横滚俯仰动态精度(rms) @25℃ ±0.1° 陀螺仪 陀螺仪量程 - ±300°/s 零偏不稳定性(allan) - 4.5°/h 角度随机游走系数(allan) - 0.25°/sqrt(h) 加速度 加速度量程 - ±4g / ±16g 可设 零偏稳定性(10s均值) - 0.02mg 零偏不稳定性(allan) - 0.005mg 速度随机游走系数(allan) - 0.005m/s/sqrt(h) 零点温度系数3) -40~85℃ ±0.002°/K 灵敏度温度系数4) -40~85℃ ≤100ppm/℃ 上电启动时间 ≤2.0S 响应时间 0.01S 输出信号 RS485/RS422 可选 工作电压及电流 5VDC(50mA) 电磁兼容性 依照EN61000和GBT17626 平均无故障工作时间 ≥99000小时/次 绝缘电阻 ≥100兆欧 抗冲击 100g@11ms、三轴向(半正弦波) 抗振动 10grms、10~1000Hz 电缆线 10cm端子线g 重量 ≤10g(含标配端子线) 注意:横滚,航向为±180°, 俯仰为±90°。
深圳瑞惯科技有限公司 2025-10-28
位移等分测量定位系列新技术
本技术从原理上区别于传统的位移(包括线位移和角位移)测量,它是利用多个小范围高精度传感器进行大范围位移测量,而其大范围位移测量的精度仅取决于小范围高精度传感器的精度,即本技术是将小范围测量的高精度沿展至整个大范围位移测量,从而使位移测量系统的相对测量精度得以极大地提高(例如:小范围r的测量误差为△r,其相对测量误差为△r/r,若测量范围为L,其中L可是r的数倍,数十倍,甚至上千倍, 应用本技术,则大范围L的测量误差仍为△r,甚至更小,其相对误差减小至△r/L)。 与光栅、磁栅、感应同步器等位移测量技术的比较 无论是光栅,磁栅,还是感应同步器位移测量装置,其测量精度的提高主要取决于它的感测目标(光栅和磁栅的的各个栅线,感应同步器的绕组)的均匀分布位置精度(各个栅线及各绕组在测量范围全程的间距均布精度)的提高。而在较大的测量范围内实现感测目标高均布位置精度的难度较大,往往造成成本很高,对环境要求也十分苛刻,甚至无法实现。本技术由于测量原理上的不同,并不要求感测目标的均匀分布,因此,其位移测量精度不受此限制,仅与所用传感器本身的精度有关。 本技术附有的几大优点: 低成本高精度、测量范围大。 用于本技术的传感器可为现有的线位移或角位移传感器产品,因此传感器的选择范围非常广泛,且因传感技术的成熟而使本技术具有良好的稳定性。 本技术利用传感器进行位移测量,影响传感器精度的因素主要有温度等,但本技术的测量精度只与传感器在测量时间内受温度等因素的影响有关,而测量时间一般较短,温度等因素的影响则可忽略不计,因而就本技术而言,温度等因素对测量的影响微乎其微。 本技术无零漂问题。因为传感器所在的任何位置均可作为本技术测量装置的起始零点,对传感器而言没有回零问题,故测量装置无零漂问题 。 本技术无任何理论上的误差,因而其测量精度可随传感器精度地提高而不断 地提高。 本技术可进行静态或动态测量;接触或非接触测量;等分及连续测量。
北京科技大学 2021-04-11
铁路导轨磨耗测量轨廓仪
铁路导轨轮廓测量仪用于铁路导轨轮廓测量。由于火车轮子和导轨的高速摩擦,铁路导轨会受到磨损,当磨损达到一定的程度时,会使火车运行稳定性变差甚至危及火车运行安全。因此铁路维护中一项重要任务是测量铁路导轨的磨损情况,以便及时更换磨损严重的导轨。本设备的任务是自动测量导轨磨损程度。 本设备采用激光锁定成像专利技术,使用机器视觉和线结构激光,测量导轨轮廓,并和理论轮廓线进行比较,获得磨损情况的定量数据。根据铁道部标准,对磨耗进行分类,设备测量的精度≤±0.1mm,每秒钟可测量25组磨耗数据,设备可对测量地点进行定位,以便回溯数据所对应的铁路地理位置。设备一次充电测量时间12小时,满足大于一个工作日要求。 和国外技术比较,本设备的独特优点是不怕强光干扰,可在太阳光日照射下野外正常测量。同时本设备具有自动测量的所有优点,例如自动生成测量报告、数据统计、长时间数据存贮等。本设备具有两项发明专利权。一项已获得专利权,一项已经申报发明专利。 本设备有大量用户需求,每个工务段需1台(每个工务段大约负责30~50公里铁路维护),高铁尤其需要。也可以用于城市地铁导轨测量。本设备外形是手推车,但所使用的技术很容易扩展到轨检车、火车等设备上。本技术国内独家。本设备已有国家铁总等国内销售代理。寻求投资入股,寻求国内外市场开拓。
电子科技大学 2021-04-10
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