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测量芯片与基板相对倾角测量方法及系统
本发明公开了一种测量平面角度方法、芯片与基板相对倾角测量方法及系统,芯片和基板相对倾角的测量方法包括步骤 S21 采用标定的方式获得第一基准平面与第二基准平面之间的角度误差;S22 根据测量平面角度的方法并结合第一高度传感器测得的高度距离获得芯片与第一基准平面的第一倾角,并根据测量平面角度的方法并结合第二高度传感器测得的高度距离获得基板与第二基准平面的第二倾角;S23 将第二倾角、第一倾角和角度误差做向量减法运算获得芯片与基板之间的相对倾角。本发明利用高度传感器测量多点高度测量倾角,进而利用倾角标定
华中科技大学 2021-04-14
光电探测量子芯片产业化
用于量子保密通信、近红外探测成像、高速量子光通信、激光雷达探测。 针对单光子探测需求,提取关键技术参数,通过多次半导体器件仿真优化,最终得到外延结构设计。结合 13 所 自主外延生长技术与精准的锌扩散方案,最终实现较为成功的 GM-APD 芯片。该芯片已经成功达到量子保密通信中单光子探测需求,并在安徽问天量子技术有限公司的产品中得到应用。 
中国科学技术大学 2021-04-14
一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片
本发明公开了一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片,包括可寻址加电液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块
华中科技大学 2021-04-10
一种基于波矢测量的红外成像探测芯片
本发明公开了一种基于波矢测量的红外成像探测芯片,包括面阵红外折射微透镜、面阵非制冷红外探测器和驱控预处理模块;其中,面阵非制冷红外探测器位于所述面阵红外折射微透镜的焦面处,被划分成多个阵列分布的子面阵非制冷红外探测器,每个子面阵非制冷红外探测器包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的光敏元;面阵红外折射微透镜包括多个阵列分布的单元红外折射微透镜,每单元红外折射微透镜与一个子面阵非制冷红外探测器对应。本发明的红外成像
华中科技大学 2021-04-14
一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片
本发明公开了一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片,包括可寻址加电液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块;液晶微光学结构被划分成可独立施加电驱控信号的多个液晶微光学块,各液晶微光学块具有相同的面形和结构尺寸,被加电液晶微光学块为液晶微透镜阵列块,其余未加电液晶微光学块为液晶相移板块;被液晶微光学块化的液晶微光学结构将与其对应的面阵可见光探测器划分成同等面形和规模的面阵可见光探测器块,并且各面阵可见光探
华中科技大学 2021-04-14
Dexinmag 表磁分布测量系统 多级磁环检测设备空间磁场分布测量仪
  DX-2012R系列表面磁场分布测量仪是结合多极磁环生产厂家和电机企业用户的实际需求,精心设计测试台体并精确控制电机运转而自主研制的表磁分布测量仪器。   随着人民生活水平的不断提高和科学技术的不断进步,人们不仅对环形磁材料磁场检测分析有需求,对于多种形状的材料甚至是空间磁场的检验也提出更多的要求和指标。在现有的经济和技术的推动下,我公司应市场要求研发了第四代表磁测量产品——DX-2012RD空间磁场分布测量仪。本设备能够精确的测试空间磁场分布,并且提供XY坐标、P极坐标、3D磁场分布和相对基波进行谐波分析等测试手段,针对现国内外市场对磁产品的多项指标,满足永磁磁体、永磁电机定子或转子、直流磁场线圈、电磁铁等品质的检验。   本设备可配多种测试工装(如三维测试探头、旋转平台或载物平台),高同心度设计和探头回位的高精度水平,是该设备品质的保证;产品综合性能达到国际先进水平。目前公司商业化产品的扫描空间800mm*800mm*800mm。 DX-2012RD表磁分布自动测量装置硬件特点 ● 三轴电动控制移动平台,铝合金材料加工,外形尺寸可定制;  ● 步进电机驱动回位精度可达±0.01mm,步进分辨率可达0.01mm; ● 台湾三爪卡盘,同心度优于0.05mm , ● 旋转角度分辨率:0.01°,回位不确定度:±0.005°; ● 测试速度30-60秒/周(锁定); ● 数据采集分0.2k/0.4k/1k/2k/4k/10k/20kGs七档自动量程; ● 准确度1.0%,重复性0.3%; ● 分辨率对应各档满量程1.0%(400Gs以下,0.1Gs有效); ● 配一标准磁场,磁场1000Gs±5Gs,定标精度0.5%,用于磁场校对。   DX-2012RD表磁分布自动测量装置软件特点 ● 基于WindowsXP/WIN7的软件包,扫描检测磁化体的场强; ● 软件能控制3个线性运动和一个旋转运动; ● 操作人员选择要扫描的区域和步进; ● 开机系统具有自我机械调零功能; ● 可自动移动到设定测试点功能并按设定测试步进方式进行连续测试; ● 测试完成,可自动回位到停机点,方便样品的更换。 ● 其他:配套软件DX-2012MDT磁场分布测量软件。   满足功能 ● 各极磁场峰值最大值、最小值和平均值自动测量功能; ● 各极磁极宽度最大值、最小值和平均值自动测量功能; ● 各磁极面积和半高宽测量自动测量功能; ● 旋转磁场零点自动寻找功能; ● 自动输出极坐标图功能; ● 自动输出对应基波谐波分析功能; ● 对同一样品,组合测试点三维磁场分布显示功能; ● 各极角度,峰值,面积列表储存功能; ● 对应磁场B与X/Y/Z长度的磁场分布图; ● 对应磁场B与平面的磁场分布图。 ● 可直接通过E-mail发送彩色的测试报告,非常快捷; ● 可将测试数据输出到EXCEL中,便于对测试结果进行分析。   标准配置与可选配置   DX-2012RD标准配置 DX-2012RD组件 说明 测试平台 包含探头电控调节机构、XYZ电动调节系统、光学电动旋转平台和精密三爪卡盘。 磁场扫描测试主机 包含自动量程高斯计和步进电机驱动控制中心。 配置软件 DX-2012RMT多极分布测试软件和DX-2012MDT平面空间磁场扫描软件。 标准磁场 提供第三方检验报告(100mT)。 其他配置 联想品牌计算机、HP激光打印机一套; 说明:以上标准配置仅作参考,实际产品清单以签订合同为准。   DX-2012RD可选配置 可选配件 说明 纵向霍尔探头 量程范围: 0.2k/0.4k/1k/2k/4k/10k/20kGs七档自动量程 精      度: 对应各档满量程0.5% 准  确 度: 对应各档满量程1.0% 横向霍尔探头 量程范围: 0.2k/0.4k/1k/2k/4k/10k/20kGs七档自动量程 精      度: 对应各档满量程0.5% 准  确 度: 对应各档满量程1.0% 三维霍尔探头 根据客户要求定制 零高斯腔 磁场屏蔽0.001mT;   DX-2012RD行程及测量范围(标准配置) 步进电机驱动轴技术参数 参数 X轴 Y轴 Z轴 位移距离 200mm 200mm 150mm 步进分辨率 0.01mm 0.01mm 0.01mm 回位不确定度 ±0.01mm ±0.01mm ±0.01mm 最大速度 20mm/sec 20mm/sec 20mm/sec   探头技术参数 移动轴 X Y Z 行程(mm) 200 200 150 分辨率(mm)   0.01mm 0.01mm 0.01mm 回位精度(mm)  ±0.01mm ±0.01mm ±0.01mm   DX-2012RD仪器参数(标准配置) 步进电机驱动器性能参数 供电电源  12V ~40VDC 容    量  0.1KVA 输出电流  峰值2.6A/相(Max) 驱动方式  空间矢量双极恒流驱动 励磁方式 十六种细分模式可选 绝缘电阻 常温常压下>100MΩ 绝缘强度 常温常压下0.5KV,1Min   精密电动旋转平台性能参数 台面直径 100mm 传动比 7.500694 分辨率(8细分) 0.00125° 重复定位精度 <0.005° 最大速度 25°/s 步进电机 2相 最大静转矩 40Ncm 最大中心负载 50kg   测试原理 DX-2012R系列表面磁场分布测量仪的测量原理结构框图以DX-2012RD为例,如图所示:        DX-2012RD空间磁场分布测量仪主要由工控电脑(测量软件)、运动控制系统和数据采集系统组成,首先通过工控电脑发送测试命令,控制运动控制系统完成设定的运动轨迹,同时同步控制数据采集系统工作,数据采集系统通过霍尔传感器采集X、Y、Z方向的数据,然后将数据传送给工控电脑进行数据处理,最后得到三维磁场分布图。   DX-2012RA多极磁环表磁分布测量仪的测量原理结构框图与DX-2012RD相比,没有X、Y、Z三轴控制系统,也不配置三维高斯计,使用的是一维的测试探头。   DX-2012RB龙门式表磁分布测量仪的测量原理结构框图与DX-2012RD相比,基本相同,只是不配置三维高斯计,使用的是一维的测试探头。   DX-2012RC机柜式表磁分布测量仪的测量原理结构框图与DX-2012RD相比,也基本相同,只是不配置三维高斯计,使用的是一维的测试探头。
厦门盈德兴磁电科技有限公司 2026-04-07
一种基于电控液晶汇聚微透镜的波前测量芯片
本发明公开了一种基于电控液晶汇聚微透镜的波前测量芯片。包括面阵电控液晶汇聚微透镜和面阵可见光探测器;面阵电控液晶汇·743·聚微透镜包括液晶材料层,依次设置在液晶材料层上表面的第一液晶初始取向层、图形化电极层、第一基片和第一增透膜,以及依次设置在液晶材料层下表面的第二液晶初始取向层、公共电极层、第二基片和第二增透膜;公共电极层由一层匀质导电膜构成,图形化电极层由其上布有 m×n 元阵列分布的方孔或圆孔的
华中科技大学 2021-04-14
芯片热设计自动化系统
TDA(芯片热设计自动化)软件是清华航院曹炳阳教授团队全自主研发的国际首个芯片跨尺度热仿真与设计系统。TDA软件可实现芯片从纳米至宏观尺寸的热设计与仿真,支持芯片微纳结构内部热输运过程的模拟研究,直接提高芯片热仿真精度与结温预测准确度,进而提高芯片性能、寿命和可靠性。
清华大学 2025-05-16
液位测量仪WH311: 专为深井、地热勘探、抽水试验设计,测量范围可达1000米,适合无人值守的连续监测
液位测量仪的厂家选择很多,关键在于根据您的具体应用场景来匹配。这里把主流的国内厂家和国际品牌梳理了一下,方便您按需选择。 1.SOLINST(索林斯特)水位测量设备:以 101 型水位计为代表,凭借坚固设计和高精度刻度成为行业标杆;同时还有界面计、油水界面计、井套管指示器等多款设备,适配不同液位监测需求。 数据记录与遥测系统:1996 年推出行业首款集成式绝对压力传感器数据记录仪,旗下 Levelogger 系列是其明星产品。搭配 9100 STS 型遥测系统,可实现本地或远程水位监测,还能完成气压补偿,保障数据精准。    2.深圳市东方万和仪表有限公司的核心产品以地下水液位测量仪为代表,其中 WH311 型号是市场主流产品,适配多种复杂监测场景,相关技术优势十分突出: 宽量程与高精度:WH311 地下水液位测量仪常规量程 1000 米-2000米的深井监测需求;经通标标准技术服务有限公司校准证书,其最大误差仅 0.009mA,误差范围在万分之六以内,远超行业常规精度标准。 强环境适应性:针对地热井高温、高矿化度的复杂工况,其监测仪变送器耐温范围覆盖 - 40℃至 + 80℃,探头采用防泥沙、抗冲击结构,关键接触部件选用耐腐蚀不锈钢材质,更有定制的钛合金材质,能有效抵御高矿物质水质的侵蚀。   3.DIVER 系列地下水监测设备长效稳定运行:产品电池寿命最长可达 10 年,无需频繁更换维护,能满足长期无人值守的地下水监测需求,大幅降低野外监测的人力成本。 适配复杂环境:通过不锈钢或陶瓷等特殊外壳材质,可抵御淡水、海水、高矿化度地下水等不同水质的侵蚀,同时能适应地下复杂的压力、温度环境。         4.合肥市德控仪表有限公司专业生产的便携式深井水位测量仪数据高效管理:支持多种数据读取方式,可通过读数装置、线缆或移动设备提取数据,配套软件还能实现大气压补偿和数据实时传输,且部分型号支持事件记录、数据平均等采样模式,有效节省设备内存。           5.Endress+Hauser(恩德斯・豪斯,简称 E+H 公司)是一家在工业自动化领域具有重要影响力的跨国集团公司。E+H 公司在中国上海设立了销售中心,在苏州设有多个生产工厂,包括恩德斯豪斯流量仪表技术(中国)有限公司、恩德斯豪斯(苏州)自动化仪表有限公司等,生产的便携式液位仪表用用在在全国多个城市设立了办事处,业务遍及化工、石油及天然气、制药、能源等多个领域。       6. Eijkelkamp(荷兰) 企业概况:水文仪器生产商,总部位于荷兰 ,专注土壤与水资源监测设备研发生产。 核心产品:DIVER 系列地下水水位计,包括 TD-Diver、Micro-Diver、Cera-Diver、CTD-Diver 等型号 技术参数: 测量参数:电导率、压力、温度三参数同步测量 量程:10m、50m、100m、200m 多种可选 存储容量:48,000~72,000 次测量结果 温度范围:-20℃~80℃ 技术优势:工厂 30 点校准,事件触发记录功能,陶瓷材质适用于腐蚀性环境。安装简便,适合大多数监测井。   安装调试典型应用场景与解决方案 以WH311为例, 针对不同行业需求提供定制化方案,以下为三大核心应用场景: 1. 抽水试验专项监测 · 核心需求:高精度、快速响应、连续记录水位降深与恢复过程 · 推荐配置:WH311-G 钛合金探头 + WH6 采集仪 + 4G 传输 + 万和云平台 · 应用案例:某地质勘探院在云南岩溶地区抽水试验中,使用 WH311 实现 3 口井同步监测,数据精度达 ±1cm,成功获取水文地质参数,效率提升 90% 2. 地热井水位 - 温度监测 · 核心需求:耐高温、抗腐蚀、长期稳定运行 · 推荐配置:WH311-R 地热款(90℃耐受)+ 钛合金膜片 + 太阳能供电 + 北斗传输 · 应用案例:贵州 1000 米地热井项目,连续运行 18 个月零故障,数据准确率 ,为地热资源评估提供关键依据 3. 矿山地下水防治监测 · 核心需求:抗干扰、智能预警、联动控制 · 推荐配置:WH311 标准款 + 双传感器冗余 + 低功耗传输 + 高位 / 低位报警 · 应用价值:实时监测矿井涌水风险,水位超阈值时自动告警并联动排水设备,保障矿山安全 #地下水位监测# #深井泵保护# #水文地质# #高精度水位计# #国产替代#    
深圳市东方万和仪表有限公司 2026-04-24
具有翻转芯片功能的芯片吸取装置
本实用新型提供了一种具有翻转芯片功能的芯片吸取装置,包括 Z 向高度调节与支撑机构、翻转驱动机构、芯片吸取机构,Z 向高度调节与支撑机构将芯片吸取机构移动到适宜高度,翻转驱动机构驱动芯片吸取机构旋转,芯片吸取机构包括直线导向运动部件和芯片吸取元件,直线导向运动部件内设有直线轴承和弹簧,直线导向轴从上往下穿过直线轴承和弹簧,其端部连接芯片吸取元件,由于弹簧的缓冲作用,芯片吸取元件将芯片吸住后跟随芯片上升一定的高度,再在翻转驱动机构的作用下旋转到达芯片供给位置。本实用新型一方面避免了非接触式吸取的不可靠
华中科技大学 2021-01-12
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