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一种共面电容式聚合物分子取向测量装置及方法
本发明公开了一种共面电容式聚合物分子取向测量装置及方法， 其中该测量装置包括传感器探头阵列(10)、电容测量单元(13)、以及取 向计算模块(14)，其中，传感器探头阵列(10)包括多组共面电极；任意 一组共面电极均包括至少两个导电电极；电容测量单元(13)用于测量同 一共面电极内的任意两个导电电极之间的电容，并得到多组电容数据； 取向计算模块(14)则用于根据多组电容数据计算待测量聚合物的分子 取向。本发明利用聚合
华中科技大学
2021-04-14
一种手持式多激光条纹快速三维测量方法
本发明公开了一种手持式多激光条纹快速三维测量方法，包括 以下步骤：1)粘贴标志点：2)使用手持三维测量仪测量物体表面的三维 数据：3)采集图像：4)图像处理：5)标志点的三维坐标计算：6)物体表 面点的三维坐标计算；7)手持三维测量仪的定位和世界坐标系下的数 据拼合，即获得从当前相机坐标系变换到世界坐标系的旋转平移矩阵， 以实现当前物体表面测量点从相机坐标系到世界坐标系的转换关系和 世界坐标系下的数据拼合。本发明通过
华中科技大学
2021-04-14
低阻测量
"专业测量低阻的发明仪器：可测最低阻值0.000001Ω；在实际应用中，还可测0.000001V的交流电压和0.000001A的交流电流。 "
厦门大学
2021-04-10
阻尼测量系统
基于 LabVIEW 图形编程语言的阻尼测量系统是利用所接收的速度振动信号和激励 信号互相关获得试件的速度冲击响应，再变换到频域得到速度频响函数。 本系统可通过一次测量得到频率范围内各阶共振峰和半功率带宽，程序可自动节选 共振峰并计算阻尼损耗因子。相较传统测量精度高，速度快，且具有良好的开放性。
同济大学
2021-04-13
骨盆测量模型
XM-F22骨盆测量模拟人
功能特点：
■ XM-F22骨盆测量模型（骨盆测量模拟人）为成年女性整体人，解剖标志明显，便于操作定位。
■ 采用高分子材料制成，仿真度高。
■ 关节灵活，满足骨盆测量时的各种体位。
■ 下腹部设有透明视窗，观察骨盆内测量操作全过程。
■ 可进行骨盆内测量与外测量训练。
上海欣曼科教设备有限公司
2021-08-23
一种用于电子鼻测量的测量装置
本实用新型提供了一种用于电子鼻测量的测量装置，所述测量装置包括锥形瓶和可拆卸搅拌器，所述锥形瓶口设有瓶塞，所述瓶塞上设有电子鼻进气孔和电子鼻补气孔，所述可拆卸搅拌器包括竖向可拆卸手柄、横向手柄和搅拌叶片，所述横向手柄和竖向可拆卸手柄连接，所述竖向可拆卸手柄底部连接有搅拌叶片。本实用新型提供的所述测量装置可以避免误差；在所述锥形瓶的瓶塞中间位置设置固定进气口，这样可以保证电子鼻进气针在实验过程不容易活动，减小误差，同时使实验人员不必付出过多力气。所述锥形瓶可以避免清洗过后水珠残留影响气味测定的影响，更加便于实验操作。
青岛农业大学
2021-04-13
一种非接触式牙颌医学三维自动化测量设备
本实用新型公开了一种非接触式牙颌医学三维自动化测量设备，包括光路调整模块、牙模定位模块和视觉测量模块，其中，所述视觉测量模块用于对牙颌模型进行光扫描测量，其设置在所述光路调整模块并可通过该光路调整模块对所述视觉测量模块的光路进行调整，所述牙颌模型设置在所述牙模定位模块上，并通过该牙模定位模块进行定位和调整，从而以配合所述视觉测量模块实现对该牙颌模型的三维扫描测量。该设备的支撑系统刚度高，工作过程稳定，抗干扰性强；光路调节范围大，操作简便；牙模固定可调整力度，灵活实用；牙模位置调整实现自动化，精确快捷
华中科技大学
2021-04-14
一种基于微流控芯片粒子捕获式的单粒子散射测量装置
本发明公开了一种基于微流控芯片粒子捕获式单粒子散射测量 装置，包括光源、分光光路、测量对准组件、探测组件和微流控芯片。 结合 Mie 散射理论计算的理论散射曲线参照，完成单粒子圆周范围内 大角度范围散射场的测量；同时由于结合了微流控芯片技术，解决了 单粒子的捕获和单粒子环境的构建问题。
华中科技大学
2021-04-14
电子肺活量仪电子肺活量测试仪FCS-10000
FCS-10000电子肺活量测试仪
FCS-10000型电子肺活量计（电子肺活量测试仪）选用了压差型传感器，采用了微电脑技术，所测数据稳定、可靠，显示清晰，主要用于人体机能的测量，可供体育、医卫、劳动、学校、科研等部门及开展全民健身活动使用。
技术参数：
■ 量程：1-10000ML
■ 分度值：5ML
■ 精度：1%F.S
■ 电源：9V电池/直流供电
■ 显示：4位液晶显示
■ 按键：电源开关，清零功能
上海欣曼科教设备有限公司
2021-08-23
测量芯片与基板相对倾角测量方法及系统
本发明公开了一种测量平面角度方法、芯片与基板相对倾角测量方法及系统，芯片和基板相对倾角的测量方法包括步骤 S21 采用标定的方式获得第一基准平面与第二基准平面之间的角度误差；S22 根据测量平面角度的方法并结合第一高度传感器测得的高度距离获得芯片与第一基准平面的第一倾角，并根据测量平面角度的方法并结合第二高度传感器测得的高度距离获得基板与第二基准平面的第二倾角；S23 将第二倾角、第一倾角和角度误差做向量减法运算获得芯片与基板之间的相对倾角。本发明利用高度传感器测量多点高度测量倾角，进而利用倾角标定
华中科技大学
2021-04-14