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一种静脉穿刺针头位置定位的装置
本发明公开了一种静脉穿刺针头位置定位的装置，其特征在于，包括红外光源、主相机、侧相机和图像处理单元；红外光源用于照射穿刺区域的皮肤表面和针头；主相机用于从穿刺区域的皮肤表面的上方由上而下对针头进行拍照；侧相机的拍照方向与主相机的拍照方向相互垂直，用于从穿刺区域的皮肤表面的水平方向对针头进行拍照；图像处理单元与主相机和侧相机相连，用于比较主相机和侧相机拍摄的照片，从而得出针头的位置。本发明的针头位置定位装置，结构简单、定位准确，仅需更换针头便可重复使用，造价和使用成本低廉，具有效率高、直观、准确等特点
华中科技大学
2021-04-14
一种用于超分辨定位成像系统的样品池
本发明公开了一种用于超分辨定位成像系统的样品池，包括底座、压板、盖玻片、载玻片、第一螺栓、第二螺栓、进穿板接头与出穿板接头，载玻片安装于压板上，盖玻片安装于底座上，压板腔体外表面与底座腔体内表面间隙配合，并通过第一螺栓连接压板与底座，第二螺栓安装于压板上，通过调节第一螺栓与第二螺栓实现样品空间厚度的改变，进穿板接头与出穿板接头均安装于压板上，实现样品空间与外界环境的连通，通过向进穿板接头注入新的液态生化试剂，从
华中科技大学
2021-04-14
一种基于时域脉冲整形系统的光学微分器
本发明公开了一种基于时域脉冲整形系统的可编程光学微分器， 其包括锁模光纤激光器 MLL、第一色散器件、掺铒光纤放大器 EDFA、 马赫泽德调制器 MZM、偏振控制器 PC、任意波形发生器 AWG、光延 时线 ODL、第二色散器件和分频器。本发明利用时域光脉冲整形系统 的原理，将微分器的光谱滤波特性从频域搬移到时域中来，通过合理 设计任意波形发生器 AWG 的产生的调制型号，改变调制信号的形状 来得到不同阶数不同带宽的微分结果，可实现阶数、带宽灵活可调的 光学微分功能。本发明使用的各种元器件属于常用器
华中科技大学
2021-04-14
一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法
本发明公开了一种基于硅基液晶的波长分辨监测方法。基于硅 基液晶在同样的偏置电压下，对不同波长入射光有不同的相位调制的 特性，对在硅基液晶波长工作范围内的光信号实现分析与监测，并能 在入射光波长未知的条件下，对该波长进行测量，并能随着相位调制 精度的提高，提高波长的分辨精度。本发明元件少，系统结构简单紧 凑，对光路的准直要求不高，无需苛刻光路的耦合与复杂操作就能进 行波长的分辨，并且有着与入射光偏振态无关的特性，在分辨出波长 的同时，还能对入射光束的偏振态进行测量，适用范围更广。
华中科技大学
2021-04-14
一种关节间柔性耦合的欠驱动手指
本发明公开了一种关节间柔性耦合的欠驱动手指，其中手指以滑轮为主要部件，手指内传动机构采用张紧绳和防松绳依次缠绕于手指的各滑轮上，以及指节间的两个耦合弹簧及拉绳，由此实现一个输入完成手指多个自由度的运动。通过本发明，手指本体以及手指内传动机构配合形成一个欠驱动手指，能够精确实现抓取时的自适应能力，同时其内嵌入式的柔顺性使该手指适用于在各类复杂应用环境的假肢手器械。
华中科技大学
2021-04-14
一种基于穆勒矩阵的套刻误差提取方法
本发明属于半导体制造中的套刻误差测量领域，具体涉及一种基于穆勒矩阵的纳米结构套刻误差提取方法。本发明采用穆勒矩阵矩阵对角线上的 M13 和 M31 元素，或者 M23 和 M32 元素的线性组合分别直接拟合得到一条直线，利用该拟合直线可直接根据测量穆勒矩阵元素得到套刻误差。该方法可以实现不同周期下一维套刻结构套刻误差的快速、准确提取。本发明方法可以实现一维套刻结构的套刻误差的快速、准确提取。
华中科技大学
2021-04-14
一种广义椭偏仪的同步控制系统
本发明属于广义椭偏仪的控制技术，具体为一种广义椭偏仪的同步控制系统。该同步控制系统至少包括：第一、第二中空伺服电机及其内置的增量式编码器、伺服电机控制器、两个补偿器、光谱仪、计算机和单片机。其中伺服电机控制器、光谱仪分别与计算机通过 USB端口连接，单片机通过串口与计算机相连，同时单片机对应引脚又分别与两中空伺服电机编码器 Z 向信号线和光谱仪 I/O 口连接。光谱仪识别到高电平并在高电平持续时间内完成光谱数据采集；根据计时器返回时间就可以计算出光谱仪开始采集时刻两补偿器光轴的位置。该方法可以精确控
华中科技大学
2021-04-14
基于对数差值点集模板的图像快速配准方法
本发明公开了一种基于对数差值点集模板的图像配准方法，包括：（1）分别确定基准图像和待配准图像的搜索区域；（2）计算搜索区域的像素灰度值对数差值矩阵；（3）将基准图像搜索区域的对数差值矩阵中绝对值最大的若干个点进行平均分组，每一组点的集合构成一个基准模板；（4）在待配准图像搜索区域的对数差值矩阵中搜索各基准模板的最佳匹配模板；（5）根据各基准模板及其最佳匹配模板得到最终配准结果，实现配准。本发明的对数差值点集模板方法在配准显微图像时计算操作主要为查表和减法等简单运算，计算速度快。同时，在保证配准速度的
华中科技大学
2021-04-14
一种 RFID 天线的外观缺陷检测系统及其方法
本发明公开了一种用于 RFID 天线的外观缺陷检测方法，包括：摄像装置的预标定步骤；将摄像装置移动至所需位置，并通过与条形光源或背光光源之间的配合，对待检测的天线拍摄其图像；采集所拍摄的图像并对其执行边缘检测，由此获得检测图像内的天线数量并分别记录其长、宽和中心点坐标值等信息；以及根据需求，选择性执行线宽检测、图案断线/粘连检测和毛刺/印刷污染检测等项目中的至少一项，由此获知所检测天线的质量结论。本发明还公开了相应的检测系统。通过本发明，能够以结构紧凑、便于操作的方式来对 RFID 天线执行质量检测
华中科技大学
2021-04-14
一种基于区间的数控机床性能预测方法
本发明公开了一种基于区间的数控机床加工性能预测方法，包括：(1)获取每类测量数据的多个测量值；(2)将每类测量数据中的每个测量值转换成区间形式；(3)提取时域或时频域特征；(4)把提取的时域或时频域特征作为观测，获得优化的广义隐马尔可夫模型；(5)从优化的广义隐马尔可夫模型中，找出状态转移概率矩阵，作为马尔可夫链转移矩阵；(6)选择区间化的初始状态概率向量，并与该马尔可夫链转移矩阵，形成性能预测模型 A<sup>(n)</sup>；(7)求该模型中的最大值，即为数控机床加工性
华中科技大学
2021-04-14